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| 品牌: | |
| 产地: | 日本 |
| 关注度: | 27 |
| 型号: | HKT‑Master0.01AAL |
分散方式:红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散
测量时间:0‑99min可调
测量范围:0‑500μm
误差率:≤±0.5% FS
分辨率:0.1%
重现性:≤±1.2%
森泽粉体特性测试仪
森泽HKT‑Master0.01AAL
国产粉体特性测试仪
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日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用由深圳森泽工业品有限公司提供,产地为日本,属于进口粉体特性测试仪,符合多项国家和国际标准,广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域,日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用凭借其创新性与实用性,在粉体特性测试仪用户中获得广泛关注。
据中国粉体网显示:该产品已通过粉体网认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异,用户平均评分达9.5(满分 10 分)。
根据森泽官方产品资料显示:日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用的分散方式为红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散,测量时间为0‑99min可调 ,测量范围为0‑500μm,误差率为≤±0.5% FS,分辨率为0.1%,重现性为≤±1.2%,日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用的价格为300元,具体型号是HKT‑Master0.01AAL。
| 产品名称 | 品牌 | 型号 | 产地类型 | 价格 |
|---|---|---|---|---|
| 日本 Fujiwork 超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AA/BB 静电卡盘用 | HKT‑Master0.01AA /HKT‑Master0.01BB | 进口 | 300元 | |
| 日本 Fujiwork FT‑D200(H) 薄膜厚度连续测量仪 静电卡盘用 | FT‑D200(H) | 进口 | 300元 | |
| 日本SEISHIN 自动粉体物性测定器AMT-2100K | AMT-2100K | 进口 | 300元 |
官方链接:
https://m.cnpowder.com.cn/ns36777/productsdetail_395752.html
来源:深圳森泽工业品有限公司
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深圳森泽工业品有限公司
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