日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1 产品中心

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日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1新品

报价：300元

品牌：
产地：	日本
关注度：	30
型号：	HKT‑Lite0.1

核心参数

误差率：≤±0.5% FS

分辨率：0.1%

重现性：≤±1.2%

分散方式：红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散

测量时间：0‑99min可调

测量范围：0‑500μm

标签

森泽粉体特性测试仪

森泽 HKT‑Lite0.1

国产粉体特性测试仪

展位推荐

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日本 Fujiwork 超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AA/BB 静电卡盘用

产品介绍

高性能型

无线操作，重量轻！

即使在无电源的环境中也能轻松进行0.1μm测量。

〈基本规格〉

●重复性精度/0.4μm ※1

●测量分辨率/0.1μm

●测量精度/1.8μm以下

●测量压力/0。8N以下（1mm厚度测量时）

●测量头/R30超硬球面

●测量范围/8mm※2

●测量支架/测量面φ50，陶瓷材质

●输出接口/RS232C、USB

●电源/硬币电池CR2032

●可选配件：•更换用测量头•PC数据传输线•手动泵

日本 Fujiwork HKT‑Lite0.1 为台式接触式经济型薄膜厚度检测仪，面向常规膜材的质检、来料筛查。分辨率 0.1μm，测量量程 0‑500μm，重复精度 0.3μm。采用机械恒定压力下压结构，配置硬质合金球面测头与陶瓷测量台面，结构简洁稳定。机身自带数显屏幕，支持 USB 数据输出，可将测量数据导出至电脑，适配 ASTM D374、GB/T 6672 薄膜测试标准。整机体积小巧，占用台面空间小，AC100‑240V 宽电压供电，适合包装膜、PET 膜、胶带、普通复合膜等常规材料，用于工厂质检室、产线离线抽检，兼顾性能与成本，不追求超高精度的大批量检测场景。

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日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1的工作原理介绍？
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产品小贴士

日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1由深圳森泽工业品有限公司提供，产地为日本，属于进口粉体特性测试仪，符合多项国家和国际标准，广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域，日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1凭借其创新性与实用性，在粉体特性测试仪用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示：该产品已通过粉体网认证，在产品性能、服务能力等维度表现优异，用户平均评分达9.5（满分 10 分）。

根据森泽官方产品资料显示：日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1的误差率为≤±0.5% FS，分辨率为0.1%，重现性为≤±1.2%，分散方式为红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散，测量时间为0‑99min可调，测量范围为0‑500μm，日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1的价格为300元，具体型号是 HKT‑Lite0.1。

在同系列产品中，您还可以选择以下型号:

产品名称	型号	产地类型	价格
日本 Fujiwork 超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AA/BB 静电卡盘用	HKT‑Master0.01AA /HKT‑Master0.01BB	进口	300元
日本 Fujiwork FT‑D200(H) 薄膜厚度连续测量仪静电卡盘用	FT‑D200(H)	进口	300元
日本SEISHIN 自动粉体物性测定器AMT-2100K	AMT-2100K	进口	300元

官方链接：
https://m.cnpowder.com.cn/ns36777/productsdetail_395758.html
来源：深圳森泽工业品有限公司

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深圳森泽工业品有限公司为您提供日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1，日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1产地为日本，属于粉体特性测试仪，除了日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供日本 Micro‑tec ESC‑500 静电夹具专用丝网印刷机半导体静电卡盘、日本 FUJIMFG 不二 ATV系列静电卡盘专用压纹加工装置、日本 Fujiwork 超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AA/BB 静电卡盘用。

工商信息

企业名称

深圳森泽工业品有限公司

企业类型

信用代码

91440300MAKDH8EP3N

法人代表

注册地址

成立日期

注册资本

有效期限

经营范围