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| 品牌: | |
| 产地: | 日本 |
| 关注度: | 18 |
| 型号: | SDSⅢ系列 |
森泽无损检测/无损探伤仪器
森泽 SDSⅢ系列
国产无损检测/无损探伤仪器
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日本KJTD SDSⅢ系列 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备由深圳森泽工业品有限公司提供,产地为日本,属于进口无损检测/无损探伤仪器,符合多项国家和国际标准,广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域,日本KJTD SDSⅢ系列 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备凭借其创新性与实用性,在无损检测/无损探伤仪器用户中获得广泛关注。
据中国粉体网显示:该产品已通过粉体网认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异,用户平均评分达9.5(满分 10 分)。
根据森泽官方产品资料显示:日本KJTD SDSⅢ系列 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备的价格为300元,具体型号是 SDSⅢ系列。
| 产品名称 | 品牌 | 型号 | 产地类型 | 价格 |
|---|---|---|---|---|
| 日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统 | HYPER SCAN‑M4 | 进口 | 300元 |
官方链接:
https://m.cnpowder.com.cn/ns36777/productsdetail_395689.html
来源:深圳森泽工业品有限公司
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深圳森泽工业品有限公司
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