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日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统新品
报价：300元
| 品牌： | |
| 产地： | 日本 |
| 关注度： | 13 |
| 型号： | HYPER SCAN‑M4 |
标签
森泽无损检测/无损探伤仪器
森泽 HYPER SCAN‑M4
国产无损检测/无损探伤仪器
产品介绍
问商家
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产品小贴士
日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统由深圳森泽工业品有限公司提供，产地为日本，属于进口无损检测/无损探伤仪器，符合多项国家和国际标准，广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域，日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统凭借其创新性与实用性，在无损检测/无损探伤仪器用户中获得广泛关注。
据中国粉体网显示：该产品已通过粉体网认证，在产品性能、服务能力等维度表现优异，用户平均评分达9.5（满分 10 分）。
根据森泽官方产品资料显示：日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统的价格为300元，具体型号是 HYPER SCAN‑M4。
在同系列产品中，您还可以选择以下型号:
| 产品名称 | 品牌 | 型号 | 产地类型 | 价格 |
|---|---|---|---|---|
| 日本KJTD SDSⅢ系列 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备 | SDSⅢ系列 | 进口 | 300元 |
官方链接：
https://m.cnpowder.com.cn/ns36777/productsdetail_395703.html
来源：深圳森泽工业品有限公司
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深圳森泽工业品有限公司为您提供日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统，日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统产地为日本，属于无损检测/无损探伤仪器，除了日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供日本 SANSHO 翼磨机 WM 系列、日本SEISHIN 稳定性测试仪ST-1、日本 晃荣产业 DONASELEC超微粉分级机 450/300/150型。
工商信息
企业名称
深圳森泽工业品有限公司
企业类型
信用代码
91440300MAKDH8EP3N
法人代表
注册地址
成立日期
注册资本
有效期限
经营范围
