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日本 Fujiwork FT‑D200(H) 薄膜厚度连续测量仪静电卡盘用新品

报价：300元

品牌：
产地：	日本
关注度：	52
型号：	FT‑D200(H)

核心参数

误差率：≤±0.5% FS

分辨率：0.1%

重现性：≤±1.2%

分散方式：红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散

测量时间：0‑99min可调

测量范围：10‑200μm

标签

森泽粉体特性测试仪

森泽FT‑D200(H)

国产粉体特性测试仪

展位推荐

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日本 Fujiwork 超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AA/BB 静电卡盘用

产品介绍

搬运性能进一步提升，能够实现稳定的连续厚度测量。

FT‑D200〈规格〉

重复精度／0.2μm※1

测量分辨率／0.1μm

测量精度／1μm以下※取决于测量头的精度

测量范围／10μm～500μm※2

测量压力／0.45±0.25N

紧凑型设计（内置显示器）

分辨率可达0.1微米

通过专用软件实现PC控制

尺寸/260（高）×300（宽）×309（深）毫米※仅指主机部分

重量/约10公斤※仅指主机部分

电源/交流100伏特※可根据需求调整为交流100～240伏特

可选配件/更换用传感器、电脑、图表打印机

FT‑D200H 是日本 Fujiwork 推出的高端接触式连续薄膜厚度测量设备，为 FT‑D200 的高分辨率版本。测量范围 10‑500μm，分辨率可达 0.01μm，测量精度优于 1μm，测量压力 0.45N，轻柔测头减少薄膜压痕损伤。设备自带送料输送机构，卷材样品直接上机即可实现连续走膜测厚，无需人工引线，简化样品装夹流程。机身集成显示单元，可外接电脑实现厚度曲线实时绘图、数据存储导出。适配涂布薄膜、陶瓷生坯膜、锂电隔膜、高分子薄膜、箔材等试样，多用于实验室研发、涂布工艺评估、样品离线抽检，用来评价薄膜纵向厚度波动，为涂布、流延工艺优化提供数据支撑。整机紧凑型台式结构，重量约 10kg，部署灵活，适配新材料研发实验室使用。

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产品小贴士

日本 Fujiwork FT‑D200(H) 薄膜厚度连续测量仪静电卡盘用由深圳森泽工业品有限公司提供，产地为日本，属于进口粉体特性测试仪，符合多项国家和国际标准，广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域，日本 Fujiwork FT‑D200(H) 薄膜厚度连续测量仪静电卡盘用凭借其创新性与实用性，在粉体特性测试仪用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示：该产品已通过粉体网认证，在产品性能、服务能力等维度表现优异，用户平均评分达9.5（满分 10 分）。

根据森泽官方产品资料显示：日本 Fujiwork FT‑D200(H) 薄膜厚度连续测量仪静电卡盘用的误差率为≤±0.5% FS，分辨率为0.1%，重现性为≤±1.2%，分散方式为红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散，测量时间为0‑99min可调，测量范围为10‑200μm，日本 Fujiwork FT‑D200(H) 薄膜厚度连续测量仪静电卡盘用的价格为300元，具体型号是FT‑D200(H)。

在同系列产品中，您还可以选择以下型号:

产品名称	型号	产地类型	价格
日本 Fujiwork 超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AA/BB 静电卡盘用	HKT‑Master0.01AA /HKT‑Master0.01BB	进口	300元
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官方链接：
https://m.cnpowder.com.cn/ns36777/productsdetail_395741.html
来源：深圳森泽工业品有限公司

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工商信息

企业名称

深圳森泽工业品有限公司

企业类型

信用代码

91440300MAKDH8EP3N

法人代表

注册地址

成立日期

注册资本

有效期限

经营范围