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日本NEOARK μKerr环测量装置 MOKE 磁性薄膜磁滞回线测试仪新品
报价:300元
品牌:
产地: 日本
关注度: 14
型号: μKerr
标签

森泽测量/计量仪器

森泽μKerr

国产测量/计量仪器

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产品介绍

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特点/用途

  • 用于对图案磁性膜等进行微米级局部性能评估的磁滞回线测量装置

  • 借助切换机构,可实现平面方向与垂直方向的测量。

  • 在空气中仅需简单操作,即可在短时间内评估磁光特性。

  • 具备映射测量功能及电动载物台选项
    ※可承接测试测量。

概要/规格


测定方向面内/垂直方向
(手动切换)
使用光源半导体激光器
※波长可协商
空间分辨率<Φ2μm<#>1<#>(※使用50倍物镜时,进行垂直评估)
※其他放大倍数需另行商议
MAX 印加磁场垂直方向15kOe(1.5T),面内方向10kOe
※20kOe等,其他施加磁场可另行协商。


NEOARK μKerr 环测量装置基于磁光克尔效应(MOKE),采用聚焦半导体激光实现微米级微区局部磁滞回线测试,专门用于图形化磁性薄膜、微磁结构、自旋电子薄膜等小区域样品的磁性表征,大气环境下即可完成检测,无需真空腔体。 系统标配半导体激光光源,可手动切换面内纵向克尔 / 垂直极向克尔两种测量模式;垂直方向磁场 可达15kOe(1.5T)、面内磁场 可达10kOe;搭配 50 倍物镜时光斑可达微米级空间分辨,可针对微小图形单元定点测试磁滞回线、克尔旋转角。 可选电动 XY 样品台,支持二维 Mapping 面扫描,获得样品表面磁性分布图谱;可拓展低温恒温模块、电压 / 应力外场调控组件,用于多条件下磁特性研究。配套专用测控软件,自动采集磁滞回线、提取矫顽力、饱和磁化、矩形比等参数,原始曲线与数据自动归档导出。 广泛用于自旋电子、磁存储、磁性薄膜、磁光器件、磁畴材料研发,适合高校实验室、材料研发机构、磁元器件企业做微区磁性定量评估。

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型号: SK/不锈钢/钛材质

300元
产品小贴士

日本NEOARK μKerr环测量装置 MOKE 磁性薄膜磁滞回线测试仪由深圳森泽工业品有限公司提供,产地为日本,属于进口测量/计量仪器,符合多项国家和国际标准,广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域,日本NEOARK μKerr环测量装置 MOKE 磁性薄膜磁滞回线测试仪凭借其创新性与实用性,在测量/计量仪器用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示:该产品已通过粉体网认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异,用户平均评分达9.5(满分 10 分)。

根据森泽官方产品资料显示:日本NEOARK μKerr环测量装置 MOKE 磁性薄膜磁滞回线测试仪的价格为300元,具体型号是μKerr。

在同系列产品中,您还可以选择以下型号:
产品名称 品牌 型号 产地类型 价格
日本TEKHNE 露点仪 TK-100 进口 300元
日本KANSAI 重锤连续式物位计 KSL系列 KSL系列 进口 300元
铁粉浓度计SDM-72 SDM-72 国产 300元

官方链接:
https://m.cnpowder.com.cn/ns36777/productsdetail_396069.html
来源:深圳森泽工业品有限公司
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深圳森泽工业品有限公司为您提供日本NEOARK μKerr环测量装置 MOKE 磁性薄膜磁滞回线测试仪,日本NEOARK μKerr环测量装置 MOKE 磁性薄膜磁滞回线测试仪产地为日本,属于测量/计量仪器,除了日本NEOARK μKerr环测量装置 MOKE 磁性薄膜磁滞回线测试仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供日本 Fujiwork 超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AA/BB 静电卡盘用、日本 Micro‑tec ESC‑500 静电夹具专用丝网印刷机 半导体静电卡盘、日本 Fujiwork FT‑D200(H) 薄膜厚度连续测量仪 静电卡盘用。
工商信息
企业名称

深圳森泽工业品有限公司

企业类型

信用代码

91440300MAKDH8EP3N

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