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日本NIDEK FT‑17 平坦度测定机 晶圆/半导体基板新品
报价:300元
品牌: 日本NIDEK
产地: 日本
关注度: 9
型号: FT‑17
标签

森泽测量/计量仪器

森泽FT‑17

国产测量/计量仪器

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产品介绍

平面度测试仪 FT-17

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斜入射干涉法平面度测试仪


特点

  • 可对外径φ130mm及以下的样品进行测量。(平面度测量则适用于φ100mm及以下的样品。)

  • 可对用于半导体的晶圆(硅、化合物、氧化物、玻璃)、用于硬盘驱动器(HDD)的磁盘(铝、玻璃)、工业用金属片以及各种形状的样品进行测量。

  • 样品可覆盖从粗糙表面到镜面表面,以及透明体、带孔结构、异形结构等各种类型。

  • 通过利用激光斜入射干涉仪产生的干涉条纹,并采用相位偏移法进行图像分析,即可对各种样本进行数字测量。


装置的详细信息
  • 通过激光进行整体一次性分析,可在短时间内获取测量数据。

  • 测量结果可以以测量值、等高线图、鸟瞰图、剖面图等形式呈现。

  • 针对多重干涉条纹的独特相位偏移分析。

  • 通过专用解析装置进行系统控制,操作极为简便(基于Windows操作系统)。

  • 操作界面可以以日语或英语显示。

  • 对于透明体样本,不仅可以进行分析,还能采取相应措施来降低背面的干涉现象,从而实现更准确的测量。

  • 可以对已测量过的样本数据根据外围以外区域的变化等进行重新计算。

  • 只需对客户提供的样品进行使用前的检查,无需进行特殊的校准。


丰富的选项群
  • 可切换使用晶圆、圆盘、角形样品、任意形状等各自的软件设置。

  • WaferSoft采用独特的真空夹具,可实现高精度的GBIR(TTV)测量。

  • 半导体行业中需求极高的步进模拟与应力分析软件。

  • 部分测量支持任意区域软处理。

  • 根据使用用途提供丰富的承台。


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产品小贴士

日本NIDEK FT‑17 平坦度测定机 晶圆/半导体基板由深圳森泽工业品有限公司提供,产地为日本,属于进口测量/计量仪器,符合多项国家和国际标准,广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域,日本NIDEK FT‑17 平坦度测定机 晶圆/半导体基板凭借其创新性与实用性,在测量/计量仪器用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示:该产品已通过粉体网认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异,用户平均评分达9.5(满分 10 分)。

根据森泽官方产品资料显示:日本NIDEK FT‑17 平坦度测定机 晶圆/半导体基板的价格为300元,具体型号是FT‑17,品牌为日本NIDEK。

在同系列产品中,您还可以选择以下型号:
产品名称 品牌 型号 产地类型 价格
日本TEKHNE 露点仪 TK-100 进口 300元
日本KANSAI 重锤连续式物位计 KSL系列 KSL系列 进口 300元
日本KANSAI 电容式物位计 KLI/KLT/KLG系列 KLI/KLT/KLG系列 进口 300元

官方链接:
https://m.cnpowder.com.cn/ns36777/productsdetail_397193.html
来源:深圳森泽工业品有限公司
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深圳森泽工业品有限公司为您提供日本NIDEK FT‑17 平坦度测定机 晶圆/半导体基板,日本NIDEK FT‑17 平坦度测定机 晶圆/半导体基板产地为日本,属于测量/计量仪器,除了日本NIDEK FT‑17 平坦度测定机 晶圆/半导体基板的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供日本 Micro‑tec ESC‑500 静电夹具专用丝网印刷机 半导体静电卡盘、日本 Fujiwork 超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AA/BB 静电卡盘用、日本JTEKT AllFit 支持过热蒸汽惰性气体烘箱 陶瓷脱脂炉 AF-INH 型。
工商信息
企业名称

深圳森泽工业品有限公司

企业类型

信用代码

91440300MAKDH8EP3N

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