型号： TFX3000P--薄膜厚度测量设备

型号： TFX4000i--薄膜厚度测量设备

型号： TFX-R1———光学膜厚测量设备

型号： 光学缺陷检测设备——WSD系列

型号： 明场光学缺陷检测设备——BriteSD 300