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日本DIA‑ELEC HYPER SCAN‑M5 多通道超声探伤系统水浸式无损检测仪新品

报价：300元

品牌：	日本DIA‑ELEC
产地：	日本
关注度：	154
型号：	HYPER SCAN‑M5

标签

森泽无损检测/无损探伤仪器

森泽HYPER SCAN‑M5

国产无损检测/无损探伤仪器

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产品介绍

超音波探伤多系统HYPER SCAN-M5（海帕斯坎-M5）采用多通道（2CH、4CH）架构，从而提升工作效率。其软件功能也十分完善，有助于更准确地检测和识别缺陷。

HYPER SCAN‑M5 是日本 DIA‑ELEC（钻石电子应用株式会社）新一代多通道并行超声波探伤检测系统，在上一代 M4 成熟平台之上升级扩展通道能力，专为半导体功率器件、电子封装、复合材料工件高效率无损检测开发。设备搭载多通道超声发射‑接收模组，可同时驱动多个超声探头并行采集信号；采用高精度 X‑Y‑Z 龙门扫描机构 + 水浸耦合探伤方式；支持 A 扫描波形、B 扫描断面、C 扫描平面成像；可一次性检出焊层空洞、芯片分层、基板剥离、内部裂纹、粘接不良等缺陷；配套专用上位分析软件，实现缺陷自动上色标记、面积测量、二值化统计、批量检测报告输出；水槽具备自动升降功能，标配安全防护光幕，适合研发试样检测以及产线中小批量工件自动化筛查。

规格

使用可能探触子	5～180MHｚ
有效测量范围	350×350mm※可根据具体工件进行定制
检测间距	MIN10μｍ
机器人速度	MAX3000mm/s（不含加速与减速）
设备尺寸	W930×D1085×H1368mm ※根据有效检测范围的调整，设备尺寸也会随之改变。
其他	安全措施（光幕），水槽升降功能

使用例

功率模块
・模块内部的缺陷检测
・芯片/电路基板的焊点检测
・基板/底板的焊点检测
・模块与底板之间的粘合树脂层检测
・带散热片的模块的内部检测

陶瓷部件/复合材料
・陶瓷与金属（铜、铝）的连接层检测
・静电夹具部件的剥离检测
・金属基板电路与基座之间的连接检测
・陶瓷的裂纹检测

软件功能

・局部放大功能
　在检测图像中指定区域后，即可放大显示该区域。
・缺陷列表显示
　对指定区域内的缺陷进行二值化处理，从而显示缺陷列表。
・所选缺陷的图像显示
　通过选择列表中的缺陷，可在图像上以彩色方式显示该缺陷。
・尺寸测量功能
　可测量矩形区域的X、Y方向长度以及两点间的距离。

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产品小贴士

日本DIA‑ELEC HYPER SCAN‑M5 多通道超声探伤系统水浸式无损检测仪由深圳森泽工业品有限公司提供，产地为日本，属于进口无损检测/无损探伤仪器，符合多项国家和国际标准，广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域，日本DIA‑ELEC HYPER SCAN‑M5 多通道超声探伤系统水浸式无损检测仪凭借其创新性与实用性，在无损检测/无损探伤仪器用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示：该产品已通过粉体网认证，在产品性能、服务能力等维度表现优异，用户平均评分达9.5（满分 10 分）。

根据森泽官方产品资料显示：日本DIA‑ELEC HYPER SCAN‑M5 多通道超声探伤系统水浸式无损检测仪的价格为300元，具体型号是HYPER SCAN‑M5，品牌为日本DIA‑ELEC。

在同系列产品中，您还可以选择以下型号:

产品名称	型号	产地类型	价格
日本日立HITACHI FS LINE（混合型）超声波成像装置陶瓷无损探伤设备	FS LINE/FS LINE 混合型	进口	300元
日本KJTD SDSⅢ系列全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备	SDSⅢ系列	进口	300元
日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统	HYPER SCAN‑M4	进口	300元

官方链接：
https://m.cnpowder.com.cn/ns36777/productsdetail_397278.html
来源：深圳森泽工业品有限公司

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工商信息

企业名称

深圳森泽工业品有限公司

企业类型

信用代码

91440300MAKDH8EP3N

法人代表

注册地址

成立日期

注册资本

有效期限

经营范围