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日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤新品
报价:300元
品牌:
产地: 日本
关注度: 16
型号: NAUT21‑I
标签

森泽无损检测/无损探伤仪器

森泽NAUT21‑I

国产无损检测/无损探伤仪器

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产品介绍

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可在空中(空气耦合)检测,水中(水浸)检测两种方法并用的样机.

用空气耦合超声波检测方法检查出的缺陷(C扫描,可确定缺陷的平面信息)、再用水浸检测法更详细的检测(可确定缺陷的空间位置)。


利用空气耦合超声波检查可实现非接触检测,可使材料的内部缺陷信息平面成像可视化。再与水浸检查法并用,使材料内部的缺损信息3D成像。

例如、锂离子电池的检查、先用空气耦合超声波检测把握缺陷的平面位置、然后再用水浸超声波检查法进行断层成像确定缺陷的深度位置,为锂离子电池的质量提高提供**方案。

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产品小贴士

日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤由深圳森泽工业品有限公司提供,产地为日本,属于进口无损检测/无损探伤仪器,符合多项国家和国际标准,广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域,日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤凭借其创新性与实用性,在无损检测/无损探伤仪器用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示:该产品已通过粉体网认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异,用户平均评分达9.5(满分 10 分)。

根据森泽官方产品资料显示:日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤的价格为300元,具体型号是NAUT21‑I 。

在同系列产品中,您还可以选择以下型号:
产品名称 品牌 型号 产地类型 价格
日本日立HITACHI FS LINE(混合型)超声波成像装置 陶瓷无损探伤设备 FS LINE/FS LINE 混合型 进口 300元
日本KJTD SDSⅢ系列 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备 SDSⅢ系列 进口 300元
日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统 HYPER SCAN‑M4 进口 300元

官方链接:
https://m.cnpowder.com.cn/ns36777/productsdetail_396756.html
来源:深圳森泽工业品有限公司
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工商信息
企业名称

深圳森泽工业品有限公司

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信用代码

91440300MAKDH8EP3N

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