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检测和分析碳化硅外延表面缺陷
报价:面议
品牌: 中科汇珠
产地: 广东
关注度: 1056
型号: 检测和分析 Si℃ 外延中的表面缺陷和晶体缺陷
标签

测量/计量仪器

检测和分析 Si℃ 外延中的表面缺陷和晶体缺陷

国产测量/计量仪器

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产品介绍

技术参数:

1)微分干涉镜头:532 nm波段光源

2)暗场镜头:457nm波段光源

3)PL镜头:313波段光源

4)PLX镜头:355波段光源

5)自动聚焦测量范围:+1.5mm

6)XYZ平台:移动范围550*400*5(XYZ),重复定位精度0.1um,测量精度:±0.5um

7)重复性:CV<5%

8)致命缺陷测试准确性:>95%


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产品小贴士

检测和分析碳化硅外延表面缺陷由东莞市中科汇珠半导体有限公司提供,产地为广东,属于国产测量/计量仪器,符合多项国家和国际标准,广泛应用于石油/化工、综合其他等领域,检测和分析碳化硅外延表面缺陷凭借其创新性与实用性,在测量/计量仪器用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示:该产品已通过粉体网认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异,用户平均评分达9.5(满分 10 分)。

根据官方产品资料显示:检测和分析碳化硅外延表面缺陷的型号是检测和分析 Si℃ 外延中的表面缺陷和晶体缺陷,品牌为中科汇珠。

在同系列产品中,您还可以选择以下型号:
产品名称 品牌 型号 产地类型 价格
SiC晶圆表面载流子浓度检测 中科汇珠 SiC晶圆表面载流子浓度检测 国产 电议

官方链接:
https://m.cnpowder.com.cn/ns35501/productsdetail_373346.html
来源:东莞市中科汇珠半导体有限公司
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东莞市中科汇珠半导体有限公司为您提供中科汇珠检测和分析碳化硅外延表面缺陷,检测和分析碳化硅外延表面缺陷产地为广东,属于测量/计量仪器,除了检测和分析碳化硅外延表面缺陷的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供常规外延产品、SiC晶圆表面载流子浓度检测、n/p交替多层外延。
工商信息
企业名称

东莞市中科汇珠半导体有限公司

企业类型

信用代码

91441900MA55G4XT6K

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