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检测和分析碳化硅外延表面缺陷
报价:面议
品牌: 中科汇珠
产地: 广东
关注度: 34
型号: 检测和分析 Si℃ 外延中的表面缺陷和晶体缺陷
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产品介绍

技术参数:

1)微分干涉镜头:532 nm波段光源

2)暗场镜头:457nm波段光源

3)PL镜头:313波段光源

4)PLX镜头:355波段光源

5)自动聚焦测量范围:+1.5mm

6)XYZ平台:移动范围550*400*5(XYZ),重复定位精度0.1um,测量精度:±0.5um

7)重复性:CV<5%

8)致命缺陷测试准确性:>95%


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东莞市中科汇珠半导体有限公司为您提供中科汇珠检测和分析碳化硅外延表面缺陷,检测和分析碳化硅外延表面缺陷产地为广东,属于测量/计量仪器,除了检测和分析碳化硅外延表面缺陷的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供常规外延产品、SiC晶圆表面载流子浓度检测、厚膜外延产品。
工商信息
企业名称

东莞市中科汇珠半导体有限公司

企业类型

信用代码

91441900MA55G4XT6K

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