东莞市中科汇珠半导体有限公司
  • 中科汇珠
    参考报价:电议
    型号:检测和分析 Si℃ 外延中的表面缺陷和晶体缺陷
    产地:广东
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  • 详细介绍:


    技术参数:

    1)微分干涉镜头:532 nm波段光源

    2)暗场镜头:457nm波段光源

    3)PL镜头:313波段光源

    4)PLX镜头:355波段光源

    5)自动聚焦测量范围:+1.5mm

    6)XYZ平台:移动范围550*400*5(XYZ),重复定位精度0.1um,测量精度:±0.5um

    7)重复性:CV<5%

    8)致命缺陷测试准确性:>95%