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Litesizer DIF Litesizer DLS 

Litesizer DIF 激光衍射粒度仪

Litesizer DLS 系列

动态光散射粒度

和 Zeta 电位分析仪

01Litesizer DIF 激光衍射粒度仪

安东帕的新型激光衍射粒度仪，它建立在近 60 年的专业知识和其前身 PSA 的宝贵经验之上。

Litesizer DIF 提供领航新一代的粒度测量技术，测量范围从 10 nm 到 3.5 mm。这是一个新时代的开始，拥有一流的光学系统、强大的 10 mW 和 25 mW 双波长激光器，以及领先的 0.01° 到 170° 的宽范围衍射角检测器阵列。

主要特点

• 尺寸范围从10nm 到 3.5mm

• 两个固态激光器，10 年保修

• 市场上最高的激光功率和最宽的角度范围

• 16kHz 的尖端数据采集率

• 光学系统具有减震和防尘设计，稳定耐用

• 快速连接的分散单元（可与Litesizer DIA互换）

• Kalliope软件-直观的一页工作流程设计和专用的QC模式

  
  

行业应用

水泥和矿物

制药行业

食品饮料

化学工业

催化剂

金属粉末

02Litesizer DLS 系列动态光散射粒度

和 Zeta 电位分析仪

全新 Litesizer DLS 系列动态光散射粒度和Zeta电位分析仪提供世界领先的粒度和 Zeta 电位测量功能。具有业界先进的多角度测量和自动角度选择功能，更为先进的 MAPS（多角度协同粒度测量）技术，可实现最高的峰值分辨率。连续透射率监测可在测量过程中检测沉降和团聚，从而提高测量的可靠性。

主要特点

• 全功能模式：智能多角度DLS粒度测量、多角度联合MAPS粒度测量、ELS模式Zeta电位测量、SLS分子量测量、PCON粒子浓度测量、透光率测量、折光率测量

• 测量温度： 0 到120℃

• 最小样品量：1.5μL

• DLS 测量角度：15°、90°、175°三角度

• 粒度测量范围从 0.3 nm 到 12 µm

• 专利 cmPALS 技术，市场领先的 Zeta 电位分析

• Kalliape软件：粒度测量软件新标杆，简洁智能，零基础入门，三次点击即可获得专家级测量结果

• 市场上最强大的偏振和荧光滤光片

• 可升级：三角度荧光滤光片和偏振片

• 具备Litesizer DLS101、501、701不同型号，满足不同需求

行业应用

制药和生命科学

化学工业

食品饮料

重工业和石油

废水和造纸

半导体和电池