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OEM光谱仪VS7000
报价:面议
品牌: HORIBA
产地: 法国
关注度: 2849
型号: OEM光谱仪VS7000+
核心参数

仪器原理:其他

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产品介绍

产品简介:
    VS7000+是一款集定制化、高性能、小型化于一身,面向光谱分析仪器制造商的OEM光谱仪产品。搭配不同的光栅、滤光片和探测器,可以满足不同应用的性能需求,实现仪器产品性能的优化和差异化。
    VS7000+标配HORIBA Jobin Yvon的4型消像差平像场光栅、高量子效率背照射CCD。峰值量子效率高于75%、动态范围高达7000:1、光谱范围覆盖紫外、可见、近红外,能满足大多数高端光学光谱仪器的使用要求,特别适合用低感光下的精密光谱分析应用。另有多种定制化方案可满足更多应用需求。
    HORIBA Jobin Yvon 真正OEM定制化解决方案,兼顾性能优化和差异化,适合仪器开发和量产。
 
应用领域
• 生化医疗
• 荧光光谱
• 液相色谱
• 透射反射光谱
• LED光源检测
• 水质气体分析
• 便携式拉曼开发
• 食品近红外光谱分析

技术特点
• 高光通量(f/2.8)
• 超低杂散光
• 主流光谱范围:紫外-可见(200nm~860nm)、可见(380nm~750nm)、紫外-可见(200nm~1050nm)
• 高灵敏度,适合荧光、发射、吸收和反射等光谱应用
• 采用高性能背照射CCD探测器,优于市场上正照射和低成本背照射CCD

特征描述
覆盖常用的紫外-可见光谱范围拥有**对称峰型的小型光栅光谱仪
读出速度快快达4.5ms
先进的电路技术低噪音、高线性度(原始数据)和线性校正(板载)
背照射线性CCDQE=63%(250nm处);70%(650nm处);55%(850nm处)
高性噪比在非制冷CCD光谱仪中拥有高的性噪比
USB2.0接口与电脑连接的标准USB接口,保证了100%数据完整性
高阶滤光片消除二级衍射 
数据采集软件/LabViewTMCVls/DLLs可  用可方便地将VS-7000+集成到您的系统中
单片光栅光路设计采用单片消像差4型凹面平像场光栅,拥有**的分光纯度
无运动部件或快门使OEM集成具备了佳的可靠性

 
HORIBA Jobin Yvon4型消像差平像场光栅,**匹配阵列探测器。


单片光栅光路设计,实现高光通量、低杂散光、高稳定性。


采用高性能背照射CCD或CMOS探测器,高量子效率、高采集速率。


S10420理论量子效率曲线

参数规格
对光谱分析应用,VS-7000+采用改进型的VS70光学设计对UV-VIS进行优化

光谱范围紫外-可见(200nm~860nm):采用250nm处优化的光栅,内置高阶滤光片
可见(380nm~750nm):采用可见光谱闪耀的光栅,内置长通滤光片
紫外-可见-近红外(200nm~1050nm):采用紫外可见双闪耀光栅,内置高阶滤光片
数值孔径f/2.8
杂散光抑制
典型(大)
0.04%(0.08%),配置300μm高紫外-可见型CCD
(采用510nm宽带滤光片,75μm宽狭缝进行测量)
>2.4 AU线性范围(5%误差),采用氘灯和10mm比色皿,测量咖啡因在273nm处的吸收
CCD探测器典型量子效率高性能背照射CCD,紫外波段的量子效率高达65%,近红外消etaloning效应
探测器高度和光纤参数CCD感光面高300μm(另有1mm可选)
适配600μm芯径,1.5m长的光纤(对1mm高CCD推荐800μm~1000μm芯径光纤)
热电稳定性暗电流和CCD模式噪声需扣除,操作者需关闭光源或在光路上安装快门
探测器量子效率会随温度变化有微小变化
光谱分辨率
像素分辨率
狭缝(出厂配置)
 
紫外-可见:在75μm狭缝、2048像元下,分辨率为2.7nm;
0.33nm/像元(配置300μm高CCD)
可选狭缝宽度:12、25、37、50、62、75、100、125、150、200μm(如需其他狭缝规格,请与我们联系)
改进的CCD满阱容量
原始非线性度
工厂校正的非线性度
>250ke-(灵敏模式)   >450ke-(高满阱模式)
 <1%(灵敏模式)  <3%(高满阱模式)
<0.4%(灵敏模式)  <0.8%(高满阱模式)
读出速度8.6ms(500kHz 模式),116spectra/s(多道采集模式,零曝光时间)
快:4.5ms(超快模式),223spectra/s(多道采集模式,零曝光时间)
典型暗电流2.8counts/ms (20℃),典型偏移 = 1000 counts
典型读出噪声在灵敏模式下35e-(大45e-) 在高满阱模式下75e-(大90e-
A/D转换16bit,500kHz
典型动态范围7000:1(灵敏模式),6000:1(高满阱模式)
典型信噪比500:1(灵敏模式)至700:1(高满阱模式),在散粒噪声受限的条件下
增益选择4e-/count 和8e-/count

注:参数,外形和光谱范围如有更改,恕不另行通知。
 
采集软件
包括(LabVIEWTM 2011版)


• 为用户编程提供VIs和上层代码
• 可访问CCD原始线性数据和校正线性数据,出厂前对每个CCD芯片做校正
• CCD设置和暗噪声扣除
• 板载(on-board)或者软件平均
• 吸收和透射计算
• 像素、波长和波数三种标度选择
• 板载(on-board)光谱校准
• 线性校正开关
• Boxcar平均
• 数据保存支持Excel或Txt格式
注:运行自带软件无需LabView许可证,编辑代码需要2011版LabView许可证,HORIBA Jobin Yvon不提供代码编写的技术支持。


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工商信息
企业名称

HORIBA科学仪器事业部

企业类型

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