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HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列
报价:面议
品牌: | HORIBA |
产地: | 日本 |
关注度: | 12235 |
型号: | SZ-100系列 |
核心参数
仪器原理:其他
测量时间:2分钟
测量范围:0.3nm-8.0μm
产品介绍
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工商信息
企业名称
HORIBA科学仪器事业部
企业类型
信用代码
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法人代表
注册地址
成立日期
注册资本
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经营范围