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HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列
报价:面议
品牌: HORIBA
产地: 日本
关注度: 12427
型号: SZ-100系列
核心参数

仪器原理:其他

测量时间:2分钟

测量范围:0.3nm-8.0μm

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产品介绍

SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析,zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定。SZ-100的典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。

颗粒分析仪采用动态光散射原理(DLS)。根据样品的物理性质,动态测量范围为0.3 nm – 8 µm。检测范围的下限受到以下因素的影响:样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响,因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。

SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池,通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多,斥力较大,较难发生团聚,溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地,发现zeta电位为零时(就是说,样品处于等电点),就要考虑选择**条件将颗粒进行絮凝和分离。

SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液,然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线,从而计算出Mw和A2

特征

  • 将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一身

  • 宽检测范围,宽浓度范围

  • 双光路双角度粒径测量(90° 和173°)

  • 多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光

  • 用于粒径和zeta电位检测的微量样品池

  • 自动滴定仪:可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

测量范围

  • 颗粒直径:0.3nm-8.0μm


测量精度

  • 粒径:按照ISO 13321/22412

    • 可溯源的NIST聚苯乙烯乳胶颗粒:100nm测量精度= +/- 2%

浓度

  • 下限:0.1 mg/mL溶菌酶

  • 上限:40 wt % (视样品而定)

测量时间

  • 粒径分析一般需大约2分钟(可自行设定)

样品池

  •  比色皿样品池

取样量

    • 12μl ~ 4ml* (* 取样量取决于样品池容量。)


Zeta电位:激光多普勒法

测量范围

  • -200 – +200mV


测量时间

    • 一般需大约2分钟

样品池

  •  专用一次性样品池

取样量

    • ~100μl,一次性样品池

分子量:静态光散射德拜曲线法

测量范围

  •  Mw: 1×103 - 2×107 g/mol

样品池

  •  比色皿样品池

物理参数

电源:AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA

激光:二极管泵浦倍频激光器 532 nm,10 mW I级

接口:USB 2.0,连接电脑与设备

外形尺寸:385(D) ´ 528(W) ´ 273(H) mm (不计凸起部分)

重量:25kg

控温范围:1-90℃,电极池和塑料池上限为70℃

工作环境:15-35℃,相对湿度≤85%,无结露

冷凝控制:可连接吹扫气

测量技术

SZ-100采用动态光散射技术测量粒径。样品颗粒在池中做布朗运动。光源照入样品池,散射光被90° 或173°检测器采集(如下图所示)。系统根据样品浓度和光强自动选择**的散射角和样品池位置。

请参见动态光散射具体介绍

散射光信号进入到一个多通道的相关器,生成自相关函数用以确定颗粒的多分散系数。然后用Stokes-Einstein方程式计算粒径。可根据样品量和测量目的自定义样品池。

zeta电位测量可使用一次性塑料电极样品池。系统先测量样品的电导率,施加一个电场,然后用电泳光散射测量粒子运动。电荷的正负决定着粒子的移动方向,而移动方向和移动速度决定了电荷的数量级(zeta电位)。zeta电位的结果可用于衡量分散体系的稳定性。

请参见Zeta 电位技术具体介绍

SZ-100通过对不同浓度样品进行静态光散射测量计算出其**分子量值。通过德拜曲线及样品浓度就可得出分子量和第二维利系数。

请参见分子量测量技术具体介绍

所有这些测量都通过菜单运行,软件操作简单。可以选择合适的样品进行导航程序设定。初学者可以选择默认参数以得到好且高重现性的数据。对于清楚知道样品分析的熟练者可在高级选项中进行追加设置。


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HORIBA科学仪器事业部

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