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MSP-300A型Glass Wafer平整度测试仪
报价:面议
品牌: 三禾泰达
产地: 北京
关注度: 189
型号: MSP-300A型Glass Wafer平整度测试仪
标签

建筑工程仪器

MSP-300A型Glass Wafer平整度测试仪

国产建筑工程仪器

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产品介绍

测量原理(Measurement Principle)

激光干涉法(Laser Interfere)

 

适用范围(Scope of Application)

用于测量直径为8inch & 12inch(300mm)透明体玻璃衬底片

测量参数(Parameter)

Wafer

Site

GF3R(TIR)

SBIR(LTV)

GF3D(FPD)

SBID(LDOF)

GFLR(NTV)

SF3R(LTIR)

GFLD(NTD)

SF3D(LFPD)

GBIR(TTV)

SFLR(LTIR)

Bow/Warp/SORI

SFQR(LTIR)

THK

SFQD(LFPD)

测量精度(Specification)

Parameter

Accuracy

Repeatability

Bow/Warp/Sori

0.5µm

0.2µm

Thickness>2mm

0.25µm

0.02µm

Thickness<2mm

0.075µm

0.01µm

TTV

0.05µm

0.01µm

测试结果(Test Result)

图形和数据(2D Drawing/3D Profile & Data)

 

干涉条纹

 

TTV(2D)

 

TTV(3D)

 

Warp/Bow (2D)

 

Warp/Bow (3D)

 

LTV(10*10)


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产品小贴士

MSP-300A型Glass Wafer平整度测试仪由北京三禾泰达技术有限公司提供,产地为北京,属于国产建筑工程仪器,符合多项国家和国际标准,广泛应用于石油/化工、建材/涂料/油漆、综合其他等领域,MSP-300A型Glass Wafer平整度测试仪凭借其创新性与实用性,在建筑工程仪器用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示:该产品已通过粉体网认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异,用户平均评分达9.5(满分 10 分)。

根据官方产品资料显示:MSP-300A型Glass Wafer平整度测试仪的品牌为三禾泰达。

在同系列产品中,您还可以选择以下型号:
产品名称 品牌 型号 产地类型 价格
ALC-SI型自动研磨厚度测控仪 三禾泰达 ALC-SI型自动研磨厚度测控仪 国产 电议
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LST-300A型共焦自动平整度测试仪 三禾泰达 LST-300A型共焦自动平整度测试仪 国产 电议

官方链接:
https://m.cnpowder.com.cn/ns36355/productsdetail_386032.html
来源:北京三禾泰达技术有限公司
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北京三禾泰达技术有限公司为您提供三禾泰达MSP-300A型Glass Wafer平整度测试仪,MSP-300A型Glass Wafer平整度测试仪产地为北京,属于建筑工程仪器,除了MSP-300A型Glass Wafer平整度测试仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供ABS-2000型压电石英BLANK频率分选机、ALC-SI型自动研磨厚度测控仪、LST-208型白光共焦法平面度测试仪。
工商信息
企业名称

北京三禾泰达技术有限公司

企业类型

信用代码

91110105746706341E

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成立日期

注册资本

有效期限

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