双光路设计在测量样品信号的同时监测光源能量波动，在测量时减少干扰，获得更高的测量稳定性，将仪器测量重复性指标提高至 dE*ab≤0.03 。保证了仪器测量速度、准确性和稳定性。相关技术受到中国***和美国***保护。