1 年

高级会员

已认证

XB1152 测试平台
报价:面议
品牌: 芯晖装备
产地: 浙江
关注度: 8
型号: XB1152 测试平台
展位推荐
更多  
产品介绍

1. 非易失存储器晶圆级BIST测试平台。
2. 通过提高并行测试数量,缩小测试机外形体积等设计显著降低了测试成本(COT)。
3. 搭配具有12个测试单元的一体prober使用,节省大量的设备占用空间。
4. 成熟的自动控制系统实现自动化测试。
5. 高MTBF,低MTTR。
6. 全球装机量超过4000台。

应用场景NAND/NOR Flash
Test Speed同测数高达1152 DUTS
Image Capture Speed每个DUT分配独立的4个pins, 2 DR pins + 1 I/O pin + 1 Power Pin
工作频率20 MHz
电源范围0 ~ 4 V  200 MA 每个DUT


问商家
相关产品
更多  
晶圆铜雾离子检查设备-HD

型号: 晶圆铜雾离子检查设备-HD

面议
晶圆表面及边缘检测设备-SEDI

型号: 晶圆表面及边缘检测设备-SEDI

面议
晶圆边缘检测设备-EDI

型号: 晶圆边缘检测设备-EDI

面议
XV1152 测试平台

型号: XV1152 测试平台

面议
推荐产品 供应产品
浙江芯晖装备技术有限公司为您提供芯晖装备XB1152 测试平台,XB1152 测试平台产地为浙江,属于测量/计量仪器,除了XB1152 测试平台的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供晶圆边缘检测设备-EDI、晶圆表面及边缘检测设备-SEDI、第三代半导体材料减薄设备。
工商信息
企业名称

浙江芯晖装备技术有限公司

企业类型

信用代码

法人代表

注册地址

成立日期

注册资本

有效期限

经营范围

分类

留言咨询

留言类型

需求简述

联系信息

联系人

单位名称

电子邮箱

手机号

图形验证码

点击提交代表您同意《用户服务协议》《隐私协议》