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金属污染物M-SPEC系列
报价:面议
品牌: 芯晖装备
产地: 浙江
关注度: 8
型号: 金属污染物M-SPEC系列
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产品介绍

金属污染物M-SPEC系列

Full Automatic in Line System

Detection Limit: ~1ppt

Time to data: 30min ~ 1hrs

Detector: ICP-MS

Throughput: 3-6 per hour

自主研制的晶体生长、研磨抛光、光学量测、化学检测、芯片测试等设备, 已广泛运用于半导体集成电路制造的前、中、后道。

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浙江芯晖装备技术有限公司为您提供芯晖装备金属污染物M-SPEC系列,金属污染物M-SPEC系列产地为浙江,属于测量/计量仪器,除了金属污染物M-SPEC系列的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供晶圆边缘检测设备-EDI、晶圆表面及边缘检测设备-SEDI、第三代半导体材料减薄设备。
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浙江芯晖装备技术有限公司

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