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Puristone晶圆几何形貌量测设备
报价:面议
品牌: 普瑞斯通
产地: 江苏
关注度: 1068
型号: Puristone晶圆几何形貌量测设备
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测量/计量仪器

Puristone晶圆几何形貌量测设备

国产测量/计量仪器

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产品介绍

产品介绍

PRODUCT INTRODUCTION

Puristone晶圆几何形貌量测设备,光谱共焦毫秒级解析THICKNESS/TTV/BOW等全参数白光干涉亚纳米3D重构粗糙度+形貌;七点相移算法突破单层/多层膜厚极限,红外多频技术智能穿透碳化硅/氮化镓等硬材BONDING WAFER!-机掌控全域精密测量!

产品特点

PRODUCT FEATURES

检测范围广

 

系统兼容150mm至300mm不同尺寸的晶圆处理,同时支持标准片、Frame片、Taiko片以及减薄片等多种晶圆类型,全面满足先进半导体生产工艺中的质量检测与尺寸量测需求。

覆盖广泛

 

专注于亚微米级精度的2D与3D图形缺陷检测,以及关键尺寸(CD)与套刻精度(OVL)的精密量测,广泛适用于多种半导体制造缺陷的检测,包括但不限于残胶、过显影问题、RDL(再布线层)缺陷、Bump变形、金属残留及表面脏污等。

精准全测

 

集成了白光三角测量技术,精准测定Bump和RDL高度,测量范围覆盖1um至400um;同时,采用红外测量技术,对TSV(硅通孔)的高度与宽度进行精确量测,范围达1-150um。此外,设备还配备了白光干涉测量功能,不仅能够测量1um至200um范围内的厚度,还具备检测内部裂纹、线路缺陷等高级检测能力,确保全面而精确的半导体制造质量管控。

稳定高效

 

搭载高性能系统平台,采用高刚性大理石基座确保稳定,配备X/Y运动平台,实现高达1G加速度与小于1um的定位精度。高性能气浮隔振技术有效隔绝环境振动干扰,而高响应、高负载(35KG)的Z轴设计,支持多个检测模块实时对焦响应。

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Puristone晶圆缺陷检测设备

型号: Puristone晶圆缺陷检测设备

面议
半导体晶圆检查系统

型号: 半导体晶圆检查系统

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产品小贴士

Puristone晶圆几何形貌量测设备由苏州普瑞斯通智能科技有限公司提供,产地为江苏,属于国产测量/计量仪器,符合多项国家和国际标准,广泛应用于石油/化工、矿业/冶金、综合其他等领域,Puristone晶圆几何形貌量测设备凭借其创新性与实用性,在测量/计量仪器用户中获得广泛关注。

据中国粉体网显示:该产品已通过粉体网认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异,用户平均评分达9.5(满分 10 分)。

根据官方产品资料显示:Puristone晶圆几何形貌量测设备的品牌为普瑞斯通。

在同系列产品中,您还可以选择以下型号:
产品名称 品牌 型号 产地类型 价格
Puristone晶圆缺陷检测设备 普瑞斯通 Puristone晶圆缺陷检测设备 国产 电议

官方链接:
https://m.cnpowder.com.cn/ns35648/productsdetail_376760.html
来源:苏州普瑞斯通智能科技有限公司
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苏州普瑞斯通智能科技有限公司为您提供普瑞斯通Puristone晶圆几何形貌量测设备,Puristone晶圆几何形貌量测设备产地为江苏,属于测量/计量仪器,除了Puristone晶圆几何形貌量测设备的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供半导体晶圆检查系统、Puristone晶圆缺陷检测设备。
工商信息
企业名称

苏州普瑞斯通智能科技有限公司

企业类型

信用代码

91320583MA1W5DUQ4M

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