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A5-SR系列显微式反射式膜厚测量仪
报价:面议
品牌: 昆山胜泽
产地: 江苏
关注度: 29
型号: A5-SR系列显微式反射式膜厚测量仪
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产品介绍

A5-SR系列显微式反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜。具体包括但不限于氧化硅,氮化硅,多晶硅,PI,光刻胶等透明半透明的材料,测量范围在20纳米到30微米。光斑小于40微米。A5-SR系列可根据客户给出的Die分布图和标记,对整个硅片进行自动寻找,自动测量。

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昆山胜泽光电科技有限公司为您提供昆山胜泽A5-SR系列显微式反射式膜厚测量仪,A5-SR系列显微式反射式膜厚测量仪产地为江苏,属于测量/计量仪器,除了A5-SR系列显微式反射式膜厚测量仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供A4-SRM-100系列小光斑显微镜厚测量仪、A3-SRmapping系列在线膜厚检测系统、Apris Low-E 玻璃镀膜在线测色系统(OMS)。
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