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日本snk粉体表面微粒子检测光源设备Parallel Eye D
报价:50000元
品牌: 日本snk
产地: 日本
关注度: 17
型号: Parallel Eye D
核心参数

误差率:3000

分辨率:400

重现性:300

仪器原理:其他

分散方式:100

测量时间:不限

测量范围:300

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产品介绍

粉体表面微粒子检测

  • 可视化表面附着颗粒:Parallel Eye D可以作为表面异物观察光源,通过与D-light相同的原理,选择性地可视化粘附到表面的荧光粒子。这使得它能够检测粉体表面附着的微小颗粒,帮助识别粉体在生产、运输或使用过程中可能受到的污染。

  • 荧光颜色差异识别物质类型:该设备还可以通过荧光颜色的差异来识别物质的类型。这意味着在检测粉体表面微粒子时,不仅能发现其存在,还能初步判断这些微粒子的成分,这对于粉体质量控制和污染源追踪具有重要意义。

粉体加工环境监测

  • 悬浮微粒可视化:Parallel Eye D不仅可以观察粘附在表面的细颗粒和污垢,还可以观察漂浮的细颗粒。在粉体加工环境中,如粉碎、混合、筛分等工序,会产生大量的悬浮微粒,这些微粒可能会影响粉体的质量和加工设备的性能。通过Parallel Eye D,可以实时监测这些悬浮微粒的分布和浓度,及时采取措施减少粉尘污染。

  • 远程可视化:该设备的光源可以到达很远的地方,即使在距离光源几米远的地方,也能实现微粒的可视化。这使得它能够在粉体加工车间等较大空间内进行有效的监测,无需近距离接触设备或物料,提高了监测的灵活性和安全性。

粉体质量控制与优化

  • 与图像处理软件结合:Parallel Eye D可以与图像处理软件包“Particle Eye”结合使用,在PC上进行实时图像处理和记录。这样可以对粉体表面的微粒子进行定量分析,记录微粒子的数量、大小和分布等信息,为粉体质量控制提供准确的数据支持。

  • 低成本高灵敏度检测:与低功率激光器相比,Parallel Eye D结合高灵敏度相机“Eyescope”可以实现高灵敏度的气流和细颗粒可视化,且成本相对较低。这对于粉体生产企业来说,是一种经济高效的微粒子检测解决方案,有助于降低质量控制成本,提高生产效率。


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工商信息
企业名称

深圳秋山工业设备有限公司

企业类型

信用代码

91440300MADG12Y615

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