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Mars 4400半导体检测设备
报价:面议
品牌: 中电科风华
产地: 山西
关注度: 34
型号: Mars 4400
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产品介绍

产品描述:SiC晶圆腐蚀后的位错检测设备。设备采用微分干涉相差的光学显微成像技术,可进行全片扫描并采集完整数据,计算并自动统计位错数量与密度,生成位错密度图。

产品参数:

应用范围:SiC衬底切割片、研磨片、抛光片的位错检测分析(经KOH腐蚀)

可测晶片尺寸:标准4,6,8英寸及其它非标尺寸

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中电科风华信息装备股份有限公司为您提供中电科风华Mars 4400半导体检测设备,Mars 4400半导体检测设备产地为山西,属于测量/计量仪器,除了Mars 4400半导体检测设备的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供3D-Lami 全自动曲面贴合生产线、多罐体式自动除泡机、PT系列偏光片贴片机。
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中电科风华信息装备股份有限公司

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