江阴晶沐光电新材料有限公司
  • 晶沐光电
    参考报价:电议
    型号:常规硅片
    产地:江苏
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  • 详细介绍:


    介绍:硅片的原始材料是高纯度的多晶硅,经过一系列复杂的加工工艺,包括晶体生长、研磨、抛光、切片等步骤后形成,以满足半导体芯片制造的要求。

    应用:硅片广泛用于集成电路(IC)、功率半导体、传感器和光电子器件,是半导体行业的核心材料。它支撑了智能手机、计算机、5G通信、新能源汽车、工业控制等领域的发展。随着先进封装和硅光子技术的进步,硅片在高性能计算(HPC)和光通信中发挥着重要作用。

    产品规格书


    ⠀⠀

    单晶硅衬底(2~12英寸)

    直径

    50.8mm

    76.2mm

    100mm

    150mm

    200mm

    300.mm

    厚度

    400μm

    400μm

    500μm

    625μm

    725μm

    775μm

    表面晶向

    <100>   ∣   <111>    ∣    <110>

    生长方式

    CZ  ∣  FZ

    掺杂类型

    N-type(Si-doping/As-doping/Sb-doping)

    P-type(B-Doping)

    Intrinsic

    定位边晶向

    16mm

    22mm

    32.5mm

    47.5mm

    Notch

    Notch

    电阻率

    0.001-0.005ohm-cm

    1-100ohm-cm

    >10000ohm-cm

    正面状态

    Epi-polished,Ra<0.5nm

    反面状态

    SSP:Etch; DSP:Epi-polished,Ra<0.5nm

    总厚度偏差TTV

    ≤8μm

    ≤10μm

    ≤10μm

    ≤20μm

    ≤30μm

    ≤30μm

    弯曲度BOW

    ≤10μm

    ≤12μm

    ≤15μm

    ≤25μm

    ≤40μm

    ≤45μm

    翘曲度WARP

    ≤12μm

    ≤15μm

    ≤20μm

    ≤30μm

    ≤60μm

    ≤60μm

    边缘去除

    ≤2 mm

    ≤3 mm


    产品性能表


    单晶硅 Si

    Growth Method
    生长方式

    CZ/FZ

    Crystal Structure
    晶体结构

    Diamond

    Lattice Constant(nm)
    晶格常数

    a=5.4305Å

    Density(g/cm3)
    密度

    2.329

    Melting point
    熔点(℃)

    1410℃

    Mohs Hardness(mohs)
    莫氏硬度

    7

    Dielectric Constant
    介电常数

    11.8

    Band Gap(eV)
    禁带宽度

    1.1

    Breakdown Electrical Field ((MV/cm))
    击穿电场

    0.3

    Thermal Conductivity(n-type)(W/cm.K )
    热导率(导电型)

    1.48

    Electron Mobility(cm2·V-1·s-1)
    电子迁移率

    1480

    热膨胀系数

    2.6×10^-6 /℃

    折射率

    3.5