*注：可根据用户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。

大口径元件吸收缺陷检测仪(PTM-2000-LA)，基于光热扫描显微成像技术，适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析，特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器，可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。