平面元件缺陷检测设备

产品介绍

平面元件缺陷检测设备(AOSI-4000F)，主要用于平面光学元件的全自动外观质量检测，该设备自动化程度高、批量上料、自动传送、智能检测，根据检测结果智能分选，并生成每个元件的检测报告。

设备可生成检测日志，按照不同的时问周期，根据元件检测数量、缺陷检测类型比例等条件生成检测日志观察生产良率变化，对生产工艺改进做出指导。