穿透式影像检测系统
报价:面议
品牌: 雄迈电子
产地: 上海
关注度: 20
型号: 穿透式影像检测系统
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产品介绍
  • phoenix的micromelx neo和nanomelx neo 系列产品将高分辨率的2D X射线技术和3D CT技术**地集成于一套系统。多项独特的创新设计,以及极高的定位精度,使得这套系统成为科学研究、缺陷分析、过程和质量控制等领域可靠有效的解决方案。
     

    全新钻石靶材
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    FLASHTM

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    Planar CT平面CT系统,提供切片以及整个立体结构的影像
    完成Planar CT后 无上下重迭影像
    传统2D影像 影像重迭较难分析


    左上:完成Planar CT 后,无上下重迭影像
    右下:传统2D影像,影像重迭较难分析

     

    标准CT计算机断层扫描
    打线影像

    打线影像


    • 高解析CT隐用,可以找出半导体封装常见缺陷

    • CT影像适合针对RD硏究分析或是缺陷样品进行细微分析与观察

    • 低voxel size可达2um, 特殊条件下可以更低

    • 轻瘾完成大型电路板的2D切片以及3D影像

    • 无须裁切大型电路板,并且针对多层结构不会有重迭影像的问题

    • 透过软件简军快速地进行滤波效果

    • 将黑白对比更突显出来,有效的观察缺陷位置

    • 高输出功率以及高分辨率

    • 在长时间使用下可以稳定焦点

    • CT扫描速度提高2倍


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    雄迈电子科技贸易(上海)有限公司为您提供雄迈电子穿透式影像检测系统,穿透式影像检测系统产地为上海,属于测量/计量仪器,除了穿透式影像检测系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供热示差扫描卡量计 DSC、雷射剥离加工机、X射线荧光镀层厚度测量仪 FT230。
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