产品型号：

TOF-SIMS

产品介绍：

PHI nanoTOF3 能够提供高质量分辨和高空间分辨的TOF-SIMS分析 ：在高质量分辨模式下，其空间分辨率优于500 nm；在高空间分辨模式下，其空间分辨模式优于50 nm。通过结合高强度离子源、高精度脉冲组件和高分辨率质量分析器，可以实现低噪声、高灵敏度和高质量分辨率的测量。

产品特性：

1. 先进的离子束技术实现高空间分辨率

2. Triple Ion Focusing Time-of-Flight (TRIFT) —— 三重离子束聚焦质量分析器

3. 宽带通能量、宽立体接受角度 —— 适用于各种形貌样品分析

4. 全新的全自动样品传送系统

5. Queue Editor实现多样品自动测试

6. 采用新开发的脉冲氩离子枪

7. 获得**的自动荷电双束中和技术

8. 标配离子枪新增FIB(Focused Ion Beam)功能

9. MS/MS平行成像同时采集MS1/MS2数据（**）

10. 远程访问实现对仪器的远程控制

11. 兼容多种仪器的样品传送管

12. 进样室手套箱

13. 加热和冷却样品台

14. 用于曲面分析的样品台（**）

15. 氩团簇离子枪

16. 铯离子枪和氩/氧离子枪

产品技术参数：