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半导体晶片倒角测量仪
报价:面议
品牌: 上海翱晶
产地: 上海
关注度: 69
型号: 半导体晶片倒角测量仪
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产品介绍

产品特点:可在1台设备上实现对晶片边缘圆周部分、定位边和notch的形状以及尺寸等的测量

①    非接触式测量

②    可对应晶片直径:φ2”~φ12”

③    可对应晶片厚度:200μm~1,500μm(需更换镜头)

④    130万像素CCD黑白摄像头

⑤    直径测量(可选功能)


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上海翱晶半导体科技有限公司为您提供上海翱晶半导体晶片倒角测量仪,半导体晶片倒角测量仪产地为上海,属于测量/计量仪器,除了半导体晶片倒角测量仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供平坦度测量仪、碳化硅(SiC)外延炉、混合激光显微镜。
工商信息
企业名称

上海翱晶半导体科技有限公司

企业类型

信用代码

91310000MA1GM0HX1J

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