上海翱晶半导体科技有限公司
  • 上海翱晶
    参考报价:电议
    型号:半导体晶片倒角测量仪
    产地:上海
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  • 详细介绍:


    产品特点:可在1台设备上实现对晶片边缘圆周部分、定位边和notch的形状以及尺寸等的测量

    ①    非接触式测量

    ②    可对应晶片直径:φ2”~φ12”

    ③    可对应晶片厚度:200μm~1,500μm(需更换镜头)

    ④    130万像素CCD黑白摄像头

    ⑤    直径测量(可选功能)