WITec公司的alpha300 A原子力显微镜基于研究级光学显微镜而设计，

是一款可靠、高端的纳米成像系统，同时具有优异的光学接入、

简易悬臂定位与原子级高分辨率。采用高精度陶瓷扫描台及样品台扫描方式，

AFM探针获得样品表面形貌图像。

该AFM采用光学显微镜配备高端相机，有助于高分辨率的样品挑选与测量。

同时观测样品与AFM探针非常有利于样品定位及扫描区域调整。

光学显微镜可实现更多的照明及检测方式，如明暗场，偏光分析及宽场荧光等， 

用户可以进一步挑选感兴趣的样品区域。用户只需旋转物镜转盘，

就可以在AFM与光学显微镜之间轻松切换，依旧保留光学显微镜与AFM性能。

关键特性

纳米尺度的表面表征

横向分辨率：低至1 nm

深度分辨率：< 0.3 nm

包含多种AFM模式

在空气与液体中均可使用

独特的悬臂技术，方便的悬臂交换和对准

精确的TrueScan™控制扫描台：

可选择的扫描范围30 x 30 x 20µm³;100 x 100 x 20µm³;或200 x 200 x 20µm³

非破坏性的成像技术

共焦拉曼成像和近场 (SNOM)可在一台显微镜上进行升级

AFM模式

接触模式

样品扫描时域探针直接接触，通过悬臂梁的倾斜及角度来记录表面形貌

AC（TappingTM 轻敲）模式（又称间歇接触模式）

抬高模式（Lift ModeTM）

数字脉冲力模式（DPFM）

磁力显微镜（MFM）

测量样品上磁场的一种非接触模式

静电力显微镜

测量静电力显微镜的一种非接触模式

记录并描绘间歇（轻敲）

模式中的相位偏移信号

纳米操纵/压印

开尔文探针显微镜

表面势测量

横向力显微镜（LFM）

揭示表面摩擦特性的一种接触模式

化学力显微镜（CFM）

测量范德华力等化学相互作用的接触或间歇模式

其他模式可选