热反射面内热导率测量系统基于“泵浦-探测”原理，采用空间域热反射法（Spatial Domain Thermal Reflection，缩写为：SDTR），能够准确测量从薄膜到块体材料的完整的面内热导率张量。系统自动化程度高，操作简便，特别适合大批量快速测量。

特点与优势

可测量完整的面内热导率张量

各向同性材料热导率测量高性价方案

结构紧凑

可靠性高、免维护

• 1、电源需求：110/220 VAC, 50/60 Hz, 15 Amp
  2、激光波长：泵浦638 nm，探测785 nm（标配，可根据用户需求选配）
  3、激光功率：泵浦100 mW，探测20 mW（标配，可根据用户需求选配）
  4、调制频率范围：标配DC-5MHz，可升级到50MH，200MHz
  5、显微成像：标配，可观察样品表面状况及激光光斑位置
  6、测温范围：标配室温，可增配80-500 K、300-1200 K、4-300 K等不同温区的变温模块
  7、软件：全自动数据测量与分析处理、数据导出、报告生成

• 面内各向异性热导率张量测量结果

  以X切石英晶体为例:
  
  光学交流量热法不要求激光光斑有严格的圆度即能准确测量面内热导率张量