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E3200 GaN缺陷检测设备
报价:面议
品牌: 昂坤视觉
产地: 北京
关注度: 154
型号: E3200 GaN缺陷检测设备
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产品介绍

E3200是针对GaN 功率器件和HB GaN LED应用,可以检测GaN衬底及PSS基GaN、Si基GaN 和SiC基GaN 等外延片的表面和荧光缺陷,*小检测颗粒81nm。可以检测并区分颗粒(particle)、凹坑(pit)、凸起(bump)、划伤(scratch)、污点(stain)、裂纹(crack)、PL 黑点、PL scratch、PL crystal 缺陷等表面及荧光缺陷。支持4@、6@、8@晶圆检测,具有高产能、检测准确和检出率高的优点。

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昂坤视觉(北京)科技有限公司为您提供昂坤视觉E3200 GaN缺陷检测设备,E3200 GaN缺陷检测设备产地为北京,属于测量/计量仪器,除了E3200 GaN缺陷检测设备的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备、SPI300 晶圆形貌测量与分选设备、E1000 化合物半导体缺陷检测设备。
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昂坤视觉(北京)科技有限公司

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91110114MA00BT241K

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