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E1000 化合物半导体缺陷检测设备
报价:面议
品牌: 昂坤视觉
产地: 北京
关注度: 178
型号: E1000 化合物半导体缺陷检测设备
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产品介绍

E1000 化合物半导体缺陷检测设备

Eagle1000 化合物半导体缺陷检测设备可以检测蓝宝石,砷化镓,钽酸锂,石英玻璃,磷化銦等衬底及外延片。可以检测并区分颗粒(particle)、凹坑(pit)、凸起(bump)、划伤(scratch)、污点(stain)、裂纹(crack)等缺陷,*小可检测缺陷81nm;支持4@、6@、8@晶圆检测,具有高产能、检测准确和检出率高的优点。

适应晶圆尺寸Wafer Size

l Size: 4", 6", 8" compatible; 标配4 cassettes; other size upon request

l Thickness: 350um~1500um(其它厚度需要测试)



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昂坤视觉(北京)科技有限公司为您提供昂坤视觉E1000 化合物半导体缺陷检测设备,E1000 化合物半导体缺陷检测设备产地为北京,属于测量/计量仪器,除了E1000 化合物半导体缺陷检测设备的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备、SPI300 晶圆形貌测量与分选设备、COT AOI芯片缺陷检测设备。
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昂坤视觉(北京)科技有限公司

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91110114MA00BT241K

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