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COT AOI芯片缺陷检测设备
报价:面议
品牌: 昂坤视觉
产地: 北京
关注度: 20
型号: COW/COT AOI芯片缺陷检测设备
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产品介绍

检测缺陷类别Defect types

l 缺陷尺寸:0.5um or above

l 常规检测:电极异常、外延层脱落、切割道异常、发光区异常、残金、双晶、外延异常

l 深度学习系统与神经网络算法,可以对缺陷类别进行精准分类

l 支持用户定义或协商定制缺陷类别,但增加缺陷类别可能会影响产能


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昂坤视觉(北京)科技有限公司为您提供昂坤视觉COT AOI芯片缺陷检测设备,COT AOI芯片缺陷检测设备产地为北京,属于测量/计量仪器,除了COT AOI芯片缺陷检测设备的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备、E3200 GaN缺陷检测设备、图形化晶圆缺陷检测设备。
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昂坤视觉(北京)科技有限公司

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