核心技术：

**光学设计达到业界*低信噪比

**AI影像比对技术，漏检率达到*低

结合光学及影像处理技术，在高反光背景材料和透明材料上均能清晰检测待测物

先进性：

采用**双非球面镜头设计，搭配光学系统设计以及AI影像比对技术，显著提升AOI设备3D检测能力，Z轴解析度可达2um，漏检率低至<0.3%。

技术完全自主，可根据客户需求针对不同产品检测做定制化设计，协助客户达到高良率与**品质

简介： 核心技术： **光学设计达到业界*低信噪比 **AI影像比对技术，漏检率达到*低 结合光学及影像处理技术，在高反光背景材料和透明材料上均能清晰检测待测物  先进性： 采用**双非球面镜头设计，搭配光学系统设计以及AI影像比对技术，显著提升AOI设备3D检测能力，Z轴解析度可达2um，漏检率低至<0.3%。 技术完全自主，可根据客户需求针对不同产品检测做定制化设计，协助客户达到高良率与**品质 

品牌： Honhor