1.核心技术

（1）双光路设计提升重复性精度dE*ab≤0.02

双光路设计在测量样品信号的同时监测光源能量波动，在测量时减少干扰，获得更高的测量稳定性，将仪器测量重复性指标提高至dE*ab≤0.02。保证了仪器，测量速度、准确性、稳定性和台间差一致性高标准。

（2）创新的凹面光栅光路结构

创新是彩谱的灵魂。历经近10年的潜心研究，彩谱采用纳米集成光学器件作为分光器件，只需5微米厚度的光学器件即可实现了纳米级别的分光能力，再一次**了行业创新方向，跨越了国外产品的技术封锁，极大的提升了产品的技术表现。