QT-3101 UIL 雪崩测试适用于测试MOSFET、IGBT、二极管的雪崩参数。

输出测量能力：**测量BVdss:±3000V**输出ID:±150V 、±200A。

可编辑VG MAX:±30V脉宽调节（分辨率：1us）。

可编程电感箱负载10μH-159.9mH步进10μH。

可编程分选机接口信号24个。