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参考报价：电议 型号：
产地：美国 在线咨询
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产品介绍
Thermo ScientificTM颗粒物排放连续监测系统的特点是采用两种测量方式，测量结果是可溯源至NIST标准的真正质量浓度，可以满足日益严格的精度要求。
·连续测量可过滤颗粒物
·不会受颗粒物特性变化的影响
·设计满足美国EPA PS-11的要求
·TEOM方法进行内部质量参比校正
先进的技术
我们的颗粒物CEMS综合了光散射法和质量微天平方法的优点，可以准确测量烟气中颗粒物浓度。系统不受颗粒物大小、化学组成变化的影响，系统通过重量参比法进行线性修正。系统设计满足美国EPA性能规范PS 11、质量保证程序Procedure 2的要求，并通过了审核程序Method 5或17的验证。
受电厂燃料、工艺过程、控制参数的影响，烟气颗粒物的变化性和动态特性变化非常强。颗粒物CEMS采用光散射、锥形微量震荡天平（TEOM）双测量原理，可以辨别质量浓度变化还是颗粒物其它特性变化。微型微量震荡天平（TEOM）是质量传感器，对连续测量的光散射设备进行内部参比校正。
颗粒物CEMS采用稀释抽取法，允许更低的传输温度，并可以减少维护量，提高系统使用寿命和运行时间。按一定比例稀释的样品被抽取进入光散射平台，这一部分进行系统连续测量。在一个可选择的时间表中，样品通过光散射平台后，进入TEOM惯性微量天平平台对光散射响应换算为真正的质量浓度。
颗粒物CEMS由稀释抽取探头，Model 3880i探头控制器，气动电气管束组成。烟道流速可以通过模拟量、数字化通讯方式输入进入系统，仪表气清洁系统和机箱空调都是可选项。
产品介绍
Thermo ScientificTM颗粒物排放连续监测系统的特点是采用两种测量方式，测量结果是可溯源至NIST标准的真正质量浓度，可以满足日益严格的精度要求。
·连续测量可过滤颗粒物
·不会受颗粒物特性变化的影响
·设计满足美国EPA PS-11的要求
·TEOM方法进行内部质量参比校正
先进的技术
我们的颗粒物CEMS综合了光散射法和质量微天平方法的优点，可以准确测量烟气中颗粒物浓度。系统不受颗粒物大小、化学组成变化的影响，系统通过重量参比法进行线性修正。系统设计满足美国EPA性能规范PS 11、质量保证程序Procedure 2的要求，并通过了审核程序Method 5或17的验证。
受电厂燃料、工艺过程、控制参数的影响，烟气颗粒物的变化性和动态特性变化非常强。颗粒物CEMS采用光散射、锥形微量震荡天平（TEOM）双测量原理，可以辨别质量浓度变化还是颗粒物其它特性变化。微型微量震荡天平（TEOM）是质量传感器，对连续测量的光散射设备进行内部参比校正。
颗粒物CEMS采用稀释抽取法，允许更低的传输温度，并可以减少维护量，提高系统使用寿命和运行时间。按一定比例稀释的样品被抽取进入光散射平台，这一部分进行系统连续测量。在一个可选择的时间表中，样品通过光散射平台后，进入TEOM惯性微量天平平台对光散射响应换算为真正的质量浓度。
颗粒物CEMS由稀释抽取探头，Model 3880i探头控制器，气动电气管束组成。烟道流速可以通过模拟量、数字化通讯方式输入进入系统，仪表气清洁系统和机箱空调都是可选项。
技术参数
量程 | 0–250 mg/m3 |
准确度 | ± 20%未进行污染源校正；± 10%污染源校正后 |
检测限 | 0.25 mg/m3 @ 15分钟整合时间 |
响应时间（T90） | 15 分钟 |
电源 | 200–240 VAC @ 50/60 Hz， 30A |
仪表气 | 80 slpm @ 0.55~0.7MPa（75–100 psi） |
探头尺寸 | 1117.85mm（44.01”） (宽) + 914/1524mm（36”/60” ）护套 X 474.73mm（18.69”） (高) X 307.09mm（12.09”） (深) |
探头重量 | 59 Kg (130 lbs) |
探头控制器尺寸 | 482.6mm（19”） (宽) X 218.95mm（8.62”） (高) X 655.32mm（25.8”）(深) |
探头控制器重量 | 25 Kg. (55 lbs) |
**烟气温度 | 200 ℃(更高温度需向工厂确认) |
环境温度 | 探头控制器操作温度4–50 ℃; 无凝结水 |
模拟量输出 | 6 路电压 0–100 mV， 1， 5， 10 V；6 路电流 0-20 mA， 4-20 mA |
开关量输出 | 1 路电源故障， 10 路继电器 |
