 |
参考报价：电议 型号：
产地：美国 在线咨询
|
工作原理
激光剥蚀技术LA及激光诱导击穿光谱LIBS相结合，J200接收等离子体发射光进行快速光谱分析，同时将激光剥蚀颗粒高效传输至ICP-MS系统。
主要特点：
J200具有LA和LIBS双系统测量能力，可以单独运行LA 或LIBS，或者同时运行LA- LIBS复合系统。激光fs 或ns可选。
样品自动对焦、高度自动调整、光斑大小调节。
可对固、液、气样品进行全元素LIBS快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒或者液体样品直接送入ICP-MS系统，实现ppb级精确分析。
可用于分析元素周期表中的所有元素。
ASI数据分析软件可在一个数据分析平台进行，分析LIBS和LA数据；可进行快速映射功能。
应用领域
复杂样本的定性和定量分析
制造质量控制:制药、生物技术、电子、太阳能、薄膜等
污染控制
土壤、植物和矿物分析
玻璃、油漆和其他痕迹证据的法医分析
材料来源确定
学术界、政府和商业企业研究和实验室分析
性能指标
激光系统 | |||
**能量 | 25mJ@ 266nm；能量输出 0-100%可调 | 重现率 | 20Hz，脉宽<6ns(FWHM)，DI 水冷却系统 |
能量控制 | 光学衰减连续可变 | 光斑大小控制 | 35-250 微米可调(到达样品表面的烧蚀光斑直径) |
激光光闸 | 自动双光闸，稳定控制激光能量和 LIBS 信号测量 | 激光安全 | I 级，样品放置区域有滤光器，有激光锁定保护 |
检测器系统 | |
谱宽190-1040 nm | 测量过程不不受环境温度变化的影响 |
分辨率λ/Δλ高达 6000 | 光谱精度优于±0.05nm |
杂散光抑制 | 探测器门控 |
门延时为0.5ns-1ms | 分辨率 0.5 ns |
样品平台系统 | |
全自动 XYZ 行程 | XY 行程 100mmx100mm，Z 行程 35mm |
XY 行程分辨率 0.2um，Z 行程分辨率 0.2um | XY 行程重现率 0.2um，Z 行程重现率 0.2um |
速度 0.001-20 mm/s | 气压可控 |
样品放置区域有滤光器，有激光锁定保护功能 | 含高效空气颗粒清洁器 |
具备专配 670 纳米激光协助样品高度自动调整功能 | |
双 CMOS 相机，广角用于定位采样区域，高倍成像用于观察某一特定区域。并可在电脑屏幕上实时观察样品烧蚀过程 | |
样品池-可充氦气或氩气惰性气体保护;锂电池样品需要保持在无水，无氧的条件下进行测量。测量碳，氮，氧，氢，氟等元素时;样品池需要保持在氦气气氛中。 | |
操作软件 | |
激光自动采样设置 | 单点、网格、光栅状、线性扫描或用户自定义设置 |
数据处理系统 | 包含谱线自动识别功能、光谱处理功能、LIBS 的强度监测、化学统计功能等 |
元素制图及深度分析控制 | 包含84种元素的Trulibs™光谱数据库和LIBS NIST 理论数据库（涵盖所有元素） |
设置预脉冲个数用来清洗样品表面污染物 | 高度自动化的测量功能 |
元素特征线的自动标定、标准曲线建立（单变量和多变量校准曲线）、主成分回归功能可用于样品分类 | |
