上海首立实业有限公司
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  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:日本
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  • 详细介绍:


    分析原理

    能量色散X射线荧光分析法

    分析元素

    Si~U(Cd/Pb高精度型)

    Na~U(φ1.2 mm/φ3 mm切换方式型)

    检出下限(Cd/Pd)

    Cd≦2 ppm, Pb≦5 ppm Cl≦50ppm

    样品形状

    **460×360 mm(高150 mm)

    样品室气氛

    大气

    X射线管

    靶材

    Rh

    管电压

    **50 kV

    管电流

    **1 mA

    X射线照射径

    Φ3 mm

    (同时搭载:φ1.2mm )

    检测器

    高纯硅检测器 XEROPHY

    液氮罐容量

    3升

    液氮消耗量

    每日1升以下(不开机时不用)

    光学图像观察

    倍率 50倍(X射线同轴)

    软件

    定性分析:自动定性或手动定性

    定量分析:检量线法

    照射直径3mm时

    基础参数法 (1)标准法 (2)1点校正

    用户设定功能

    可以按照用户事先编好的条件,按照程序自动进行分析和定量分析

    计算机

    CPU

    Pentium IV 1.8 GHz 以上

    内存

    1GB 以上

    硬盘

    120 GB 以上

    OS

    Windows XP

    监视器

    17寸 CRT(任选:17寸 LED)

    打印机

    彩色喷墨打印机

    周围温度

    10~35 ℃(性能温度)/ 5~40 ℃(动作温度)

    周围湿度

    5~31 ℃时温度范围:**相対湿度80 %以下

    31~40 ℃时温度范围:相対湿度50 %以下

    电源

    AC 100 V、120 V、220 V、240 V ±10 %、50/60 Hz

    消耗电力

    1.3 kVA 以下(含计算机、CRT、打印机)

    设备重量

    约 265 kg(不含桌子、计算机)

    外形尺寸

    分析单元

    610(W)×750(D)×500(H)mm

    信号处理单元

    220(W)×500(D)×480(H)mm