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美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2DTM系列波前分析仪（CLAS-2D™ ， CLAS-XP™， CLAS-HP™， CLAS- NearIR-320™， CLAS-NearIR-640™）能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数，例如波前倾斜，峰谷误差，均方根波前误差，像散，球差，聚焦误差/准直。
LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪，光束质量分析仪，自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用独特的算法能够精确测量三个波段的波前参数：300nm -1100 nm， 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。
另外，美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐*合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。
波前分析仪产品特点：
CLAS-2DTM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。
波前分析仪应用范围：
?激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测
?激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测
?红外、近红外探测
?平行光管/望远镜系统的检测与装调
?卫星遥感成像、生物成像、热成像领域
?球面、非球面光学元器件检测(平面，球面，透镜)
?虹膜定位像差引导
?大口径高精度光学元器件检测
?激光通信领域
?航空航天领域
CLAS-2DTM产品型号汇总
COMPLETE CLAS-XP System
型号 | 81000- 00 | 81000- 46 | 81000- 47 | 81000- 48 | 81000- 49 | 81000- 50 |
焦距（mm） | 2.0 | 2.047 | 4.75 | 8.19 | 15.48 | 25.08 |
灵敏度 | λ/30 | λ/30 | λ/50 | λ/100 | λ/150 | λ/200 |
动态范围 | 120λ | 120λ | 80λ | 60λ | 40λ | 30λ |
透镜尺寸（mm） | 0.072 | 0.072 | 0.108 | 0.144 | 0.198 | 0.252 |
透镜阵列 | 102*102 | 102*102 | 68*68 | 51*51 | 37*37 | 29*29 |
COMPLETE CLAS-HP System
型号 | 81000- 20 | 81000- 21 | 81000- 23 | 81000- 24 | ||
焦距（mm） | 4.98 | 7.78 | 19.92 | 29.62 | ||
灵敏度 | λ/100 | λ/150 | λ/200 | λ/250 | ||
动态范围 | 211λ | 169λ | 105λ | 115λ | ||
透镜尺寸（mm） | 0.112 | 0.140 | 0.224 | 0.280 | ||
透镜阵列 | 128*128 | 102*102 | 64*64 | 51*51 |
COMPLETE CLAS-Near IR 320 System
型号 | 81000- 32 | 81000- 33 | 81000- 34 | 81000- 35 | 81000- 36 | 81000- 27 |
焦距（mm） | 25.69 | 36.99 | 11.44 | 17.87 | 25.74 | 9.3 |
灵敏度 | λ/83 | λ/100 | λ/46 | λ/58 | λ/70 | λ/50 |
动态范围 | 44λ | 37λ | 78λ | 63λ | 53λ | 55λ |
透镜尺寸（mm） | 0.400 | 0.480 | 0.320 | 0.400 | 0.480 | 0.225 |
透镜阵列 | 24*19 | 20*16 | 30*24 | 24*19 | 20*16 | 71*56 |
