系统说明：OLED多片式IVL测试系统应用于大批量测试IVL 性能曲线以及在视角变化过程中亮度的变化。主要面向OLED 材料制作和OLED 屏体的生产厂商。

一、系统原理

二、系统特点

· 灵活多片式

· 大视角测量

· CCD 自动对位系统

· 系统高度集成

· 温度控制单元（选配）

三、设备系统实物展示

四、测试项目