无损检测用X射线平板探测器产品中心

滨松光子学商贸（中国）有限公司

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产品详情

无损检测用X射线平板探测器

参考报价：电议
型号：

产地：日本
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详细介绍：

无损检测用X射线平板探测器

详细参数

感光面积	120 x 120 mm
像素尺寸	50 x 50 μm
总像素个数	2400 x 2400 pixels
闪烁体类型	CsI闪烁体板
视频输出接口	RS-422
帧速率（典型值）	2 frames/s
动态范围（典型值）	2000
X-ray分辨率（典型值）	8 line pairs/mm
测试条件	典型值，Ta=25 ℃

外形图（单位：mm）

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