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C11200/锁模激光器系统
产品目录：
| 产品图像 | 产品型号 | 产品名称 | 系统名称 | 扫描重复率 | 时间分辨率(拟合分析) |
| C11200/锁模激光器系统 | 皮秒荧光寿命测量系统 | 锁模钛蓝宝石激光系统 | **值 20 MHz | 5 ps |
| C11200/氮激光器系统 | 皮秒荧光寿命测量系统 | 氮激光器泵浦型染料激光器系统 | **10 Hz | 100 ps |
| C11200/PLP系统 | 皮秒荧光寿命测量系统 | PLP系统 | **20MHz | 10 ps |
C11200/锁模激光器系统：
滨松皮秒荧光寿命测量系统是为满足研究这类材料的研究者们的需求而开发的。具有皮秒时间响应的光学瞬态记录仪“条纹眼（streak scope）”的应用，使得超快时间分辨型分光光度法成为现实。
条纹相机技术的应用使探测灵敏度达到光子计数水平。对于同步波长和时间测量，可将光谱仪添加到系统中。波长和时间设置等测量参数可以由电脑控制以简化实验室操作。
详细参数
| 系统名称 | 锁模钛蓝宝石激光系统 |
| 波长范围 | 200--850 nm，400 nm--900 nm |
| 探测器类型 | Czerny-Turner型 (带像差矫正环形镜) f=338 mm F3.9 |
| 光栅 | 同时可安装两个光栅 （40 gr/mm 到 1200 gr/mm可选） |
| 测量波长范围 | 280 nm (采用40 gr/mm) 到 10 nm (采用1200 gr/mm) |
| 波长分辨率 | 5.4 nm (采用40 gr/mm) 到 0.18 nm (采用1200 gr/mm) |
| 时间轴 | 1 ns 到 10 ms |
| 扫描重复率 | **值 20 MHz |
| 时间分辨率(拟合分析) | 5 ps |
特性
5 ps时间分辨率
该系统采用条纹相机能实现15 ps的时间分辨率。通过去卷积处理，能获得5 ps的时间分辨率。
同步多波长测量
由于荧光寿命在多波长无扫描的条件下测量，时间分辨型光谱可以在很短的时间内采集。
二维光子计数
光子计数和条纹相机技术的结合实现了超高灵敏度和同步多波长测量。因为多波长的荧光现象可以 被同步测量，即使极低荧光也能被有效地探测和测量，这是以前的方法不能提供的特性。
优于100，000:1的宽动态范围
优于100，000：1的动态范围测量极低荧光。这能实现多组分荧光寿命的高精度分析。
更短积分时间和更好信噪比测量荧光寿命
条纹扫描频率可以达到20 MHz。通过高速重复扫描的积分，高信噪比测量可以快速完成。
涵盖从皮秒到微秒的荧光现象
由于扫描时间从1 ns到10 ms可调，从皮秒到微秒的宽范围荧光寿命测量成为可能。
涵盖从UV到NIR的宽波长范围
两种条纹相机可选，分别具有200-850 nm和300-900 nm的感光范围
标准光学系统实现简单光学对准
应用
光物理和光化学的初始研究
表面和界面的微观环境和动态结构研究
二维分子集合体，例如分子薄膜、LB膜、液晶和沉积膜等动态结构的研究
激子动力学和量子尺寸效应的研究（例如半导体掺杂玻璃和量子线）
有机LED材料的时间分辨型荧光和磷光光谱评价
光子晶体研究
其他领域和荧光寿命相关的研究、评估和检测
结构图软件
●测量界面
电脑控制条纹相机、光谱仪和延迟发生器
条纹先机、光谱仪和延迟发生器的控制窗口显示在电脑显示屏上，易于修改时间标度等测量参数和监控波长选择。“自动延迟（Auto delay）”功能节省了每次时间标度改变时所需的计时。
实时显示
时间曲线或频谱可以在显示屏上实时显示。这个功能可以用于测量期间选择时间标度或选定分析数据区域。●荧光寿命分析
多组分分析
同一屏幕的多个数据分析
计算后的荧光寿命数值被显示在同一屏幕上易于对比分析。
去卷积实现高精度分析
去卷积处理使得荧光寿命分析具有高精度。当分析寿命更长的组分比如磷光时，“Tail Fit”功能可以替代去卷积过程。 ●曲线分析
时间分辨型光谱显示
实现时间分辨型光谱显示是条纹相机提供的**特点
光谱和荧光衰减曲线的显示
显示每条曲线的半峰宽（FWHW）、峰位置和峰强度。
同一屏幕的多个数据加载和对比
归一化处理使得多个数据分析变得简单
