北京安洲科技有限公司
  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:美国
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  • 详细介绍:


    SOC-200 是一款高精度科研级BRDF测量系统,可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品的BRDF,实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数(BRDF)制图。BRDF数据可以提供研究材料光学性能所必须的方向反射信息,如表面能量散射的方向和强度。

    主要特点:

    n 光谱范围:0.35~14μm(基于检测器选项)

    n 测量本底噪声:<10-3sr-1

    n 可水平装置粉末和液体样品进行测量

    n 重复性:<本底噪声的5%

    n 全自动测量四个角坐标 (Θ and Φ、入射及反射角)

    n 集成电控单元,用于快速处理、显示和存储数据

    n 自动带通滤光轮,一次性测量十二种多光谱通道。

    n 支持斯特林循环冷却的MCT和InSb检测器,可以无人值守地全自动数据采集,自动切换标样样品测量

    测量指标:

    n 全半球双向反射分布函数(BRDF)

    非偏振BRDF

    线性偏振BRDF

    n 双向透射分布函数(BTDF)

    应用领域:

    n 航空工业

    n 国防

    n 航天

    n 行星探测

    n 涂层领域

    n 光学材料质量控制

    技术参数:

    项目

    参数

    测量项目

    BRDF、BTDF

    光谱范围

    0.35~14μm

    角度范围

    ? Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85°

    ? Incident azimuthal: Phi i Φi = 0° to 350°

    ? Reflected polar: Theta r Θr = 0° to 85°

    ? Reflected azimuthal: Phi r Φr = 0° to 360°

    角度精度

    0.1°

    光谱滤波

    标准商业化1英寸薄膜带通滤光片

    自动化

    Θi,Φi,Θr,Φr,光源孔径,滤光轮和样品/参照X极

    光源

    Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower

    检测器

    Si, InGaAs, dual InSb/MCT

    本底噪声

    <10-3sr-1

    样品尺寸

    直径1英寸圆片、粉末、液体

    运行

    PC控制,全自动测量

    尺寸

    53″W x 53″D x 75″H

    产地:美国