上海沃埃得贸易有限公司
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  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:日本
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  • 详细介绍:


    本系统根据*小保护角度法(散荷法),在采用棱镜形状的样本中使用任波长为(1~14微米)的中色光,通过测量透过入射光的角度来测量样品的透射率的的装置。能够测定在以往的测定法的折射率精度为0.0001。用于红外窗口及红外镜头的Ge, Si, ZnSe, KRS-5。*适合评估玻璃和红外光学薄膜。

    特点:

    可以在波长范围1~14um中测量折射率,可以达到(0.0001)的高精度;
    配备温度调控功能,可以测量不同温度下的折射率的差异。