特点

• 123 eV FWHM Resolution @ 5.9 keV

• 高计数率 >1，000，000 CPS

• 超高峰背比 - 26，000:1

• Be window (0.5mil) 或可以配套AMPTEK C2（Si3N4）

• T-08 一体化封装

• 制冷 ΔT> 85K

• 前置放大器输出成峰时间 <60 ns

• 抗辐射

• Si晶体厚度500um

• 内置多层准直器

• 70 mm2 准直后有效面积 50 mm2

应用

? 超快的台式和手持式分析仪

? SEM系统中用EDS进行扫描和绘图

? 在线过程控制及分类设备

? OEM定制应用

封装方式：可以适用AMPTEK所有封装产品，完全匹配

• XR100FASTSDD with PX5

• X-123FASTSDD

• OEM Configurations

• Vacuum Applications

分辨率：Be(0.5mil) and C windows