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产地：美国 在线咨询
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匠心艺术之作
70mm2 FAST SDD
Amptek**研发了一款TO-8封装的70mm2 FAST SDD探测器。它的封装和Amptek其他所有探测器封装一样。这样使得70mm2 FAST SDD成为非常方便的替代品。在同样性能下，计数率是25mm2SDD探测器的3倍。
特性
l70mm2有效面积准直到50mm2
l123ev FWHM @5.9keV
l计数率>2，000，000cps
l高峰背比-26000:1
l前置放大器上升时间<60ns
l窗口：Be(0.5mil) 12.5um或C2(Si3N4)
l抗辐射
l探头晶体厚度500um
lTO-8封装
l制冷ΔT >85K
l内置多层准直器
应用
l超快台式和手持XRF光谱仪
lSEM中EDS系统的样品扫描或测绘样品
l在线过程控制
lX射线分拣机
lOEM
FASTSDD-70规格参数
通用 | |
探头类型 | 硅漂移探头（SDD） |
探头大小 | 70mm2准直到50mm2 |
硅晶体厚度 | 500um |
5.9keV处55Fe能量分辨率 | 峰化时间4us时，分辨率为123-135eV |
峰背比 | >20000:1（5.9keV与1keV计数比） |
探头窗口 | Be:0.5mil(12.5um)或C2（Si3N4） |
准直器 | 内部多层准直器 |
电荷灵敏前置放大器 | CMOS |
增益稳定性 | <20ppm>℃ |
外壳尺寸 XR-100FastSDD-70 | 3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm) |
重量 XR-100FastSDD-70 | 4.4盎司（125g） |
总功率 XR-100FastSDD-70 | <2W |
质保期 | 1年 |
使用寿命 | 取决于实际使用情况，一般5-10年 |
仓储和物流 | 长期存放：干燥环境下10年以上 仓储和物流：-40℃到+85℃，10%到90%湿度，无凝结 |
工作条件 | -35℃到+80℃ |
TUV 认证 认证编号：CU 72101153 01 检测于：UL61010-1:2009 R10.08 CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1 | |
输入 | |
前放电源 XR-100FastSDD-70 OEM 配置 | ±8V@15mA，峰值噪声不超过50mV。 PA210/PA230或X-123：±5V |
探头电源 XR-100FastSDD-70 | -100到-180V@25uA，非常稳定， 变化<0.1% |
制冷电源 电流 电压 | **450mA **3.5V，峰值噪声<100mV |
注： XR-100FastSDD-70包含它自身的温度控制器 | |
输出 | |
前放 灵敏度 极性 输出上升时间 反馈 | 典型的3.6mV/keV（不同的探头灵敏度不同） 正输出信号（**1KΩ负载） <60ns 复位型 |
温度监控灵敏度 | 根据配置不同而变化 当使用PX5，DP5，或X-123时，直接通过软件读取开尔文温度 |
FastSDD-70 探头可用于Amptek所有的配置中
