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产地：日本 在线咨询
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EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪
配备高分辨率、高灵敏度SDD检测器，轻松应对复杂基体下的有害元素筛选分析，效率更高。具有X射线管自动老化功能。装置如长期不运行，该装置可自动运行该功能。
范围
· 测定对象：固体、液体、粉末
· 测定范围：13AI-92U
· 一次滤光片：5种+OPEN自动交换
· 软件：筛选分析、镀层测厚分析、成分定量分析、解析软件定性分析，具有
自动校正功能（能量校正、半峰宽校正）
· 样品室尺寸：较大W370mm x D320mm x H155mm
