AXIS SUPRA X射线光电子能谱仪

Axis Supra 的设计理念是将样品自动载入、光学显微镜辅助定位样品分析位置和智能的数据采集、处理等易用性集成于高端XPS，并未由于高度自动化而丧失高性能。超高的灵敏度、杰出的能量分辨和快速、高空间分辨的成像满足绝大多数高要求的应用

技术特点

·大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取高的检测灵敏度。

·大平均半径的双聚焦半球能量分析器，可以获得高的谱线能量分辨。

·**二维阵列延迟线检测器，可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置，亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。

·**的同源中和器，具备无阴影荷电中和能力，且对于表面凸凹不平的样品，可实现精确电荷中和。

·标配单色化Al阳极，亦可选购单色化的Al/Ag双阳极，并且单色化阳极靶可以更换多个新鲜靶点，极大地延长了阳极靶的使用寿命。

·标配进样室定位光学显微镜，可以在进样预抽真空时定位多样品的分析位置，然后转入分析室实施自动分析。