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LA-ICP-MS 的量子级飞跃
J200LA-fs飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下，均匀剥蚀样品成透明状，这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性，这是采用长脉冲激光技术无法达到的。
LA-ICP-MS 的量子级飞跃
J200LA-fs飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下，均匀剥蚀样品成透明状，这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性，这是采用长脉冲激光技术无法达到的。
减少样品的依赖性，比雾化技术精度高
J200LA-fs系列剥蚀样品精度高，且没有热效应。而采用长激光脉冲的系统，会发生的多种热过程，改变剥蚀样品的数量和化学成分，如改变热特性等；并且无论采用什么波长，如266nm， 213nm 或193nm， 为了准确定量的分析元素和同位素，需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质。
J200LA-fs剥蚀均匀一致，剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性，无需高度匹配的标准物质，也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。
均匀一致的粒径确保高精度、高灵敏度测量
长激光脉冲系统产生的样品颗粒大（常大于数微米），驻留在输送管中，导致运输效率低，并且降低了分析的灵敏度。大样品颗粒还会在ICP-MS的瞬时信号中产生峰值，导致测量精度降低。J200系统产生的样品颗粒均匀一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，运输效率高。这些到达ICP源的颗粒能完全被消解，产生稳健、恒定的瞬时ICP-MS信号。用户可完全依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS 系统。
元素和同位素的分馏*少
在LA-ICP-MS测量过程中引起元素或同位素分馏的两大主要过程：（1）非化学计量物质剥蚀的热过程；（2）大样品颗粒在ICP源不完全消解。J200施加高能激光的时间比长脉冲系统短，*短达1/10000。J200LA-fs系统通过非热过程，施加超高激光辐射剥蚀样品，产生的颗粒能在ICP源完全消解，确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号。
高精度元素和同位素测量的保障
ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，也是世界**在LA-ICP-MS系统中采用飞秒激光脉冲，并实现其**性能的公司。J200LA-fs系统能完成**挑战性的化学分析工作。来自ASI公司严谨的科研和技术支持是其它技术无法达到的。使用ASI公司的产品，意味着能直接和世界**的研究团队交流，并得到专业的技术支持。
强大的∫ Integra软件与ICP-MS仪器协同操作
J200LA-fs系统软件∫ Integra功能直观、带图形界面，易浏览不同的样品区域，设立灵活的采样方式。∫ Integra采用双向通信控制，协同操作ICP-MS仪器达到了****的水平。∫ Integra软件让用户通过基本单元“处方”来制定各个硬件工作的时间序列命令集，并通过串联多个“处方”，让系统自动完成各个测量工作。
硬件控制简单、方便
∫ Integra软件使J200LA-fs用户简单、方便地操作硬件部件。只需简单点击tab键，用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态，不同用户组可赋予不同的使用权限。
获取勾边样品图像，制定复杂的激光采样模式
∫ Integra 软件提供大的视频窗口，显示勾边的、详细的样品图像。用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式，包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式。即使是形状怪异的结构，采用∫ Integra的模式工具也可选定，并分析其元素或同位素。
双照相系统扫描样品
J200LA-fs 的两个相机提供广角和放大的样品图像。∫ Integra允许用户先获取样品的广角图像，然后在图像上扫视不同的位置，高倍放大选定点。
智能气流控制，**限度地获取ICP-MS等离子体的稳定性和分析性能
∫ Integra具备智能输送和补充气控制功能，使每种气体按预定的方式达到设定值，同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态，防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气。
“处方”功能让系统自动运行
用户可将多个硬件部件运行命令集合，并按时间顺序排列，形成∫ Integra“处方”。制定完成的处方，以后也可以调用。多个处方可编制成组，自动顺序执行，使测量工作高度自动化。
可简单采用“recall”命令调用“处方”，重复实验，也可复制部分“处方”，结合新的命令，完成新的采样过程。
主要技术指标
| 激光器 | 工业级高频Ytterbium diode飞秒激光器，343 nm和1030 nm，频率可调，**10KHz |
| 能量控制 | 连续可调光学衰减器，集成激光能量监测单元 |
| 激光光闸 | 自动光闸保证激光能量稳定 |
| 激光脉冲能量(激光头输出) | **150μJ/脉冲 @ 343 nm* ，** 1mJ/脉冲 @ 1030 nm |
| 激光光斑大小控制 | 3-70微米，结合了自动光束扩展器和狭缝成像 光斑大小范围取决于不同设备的型号，可用户自定义光斑大小范围 |
| 自动X-Y轴 | 100 mm X 100 mm 行程范围，分辨率0.2微米 |
| 自动Z轴 | 35mm行程范围，Z轴可以实现样品自动高度调整，分辨率0.5微米 |
| 剥蚀点定位 | 红色激光具有更好的信号精度，ASI的自动对焦**技术 |
| 样品图像 | 高分辨率的双CMOS镜头，用于高倍放大和大视野预览，支持光学变焦 |
| 样品成像光源 | 泛光LED灯，同轴反射光和透明光源，正交十字光 |
| 气体控制 | 双路数字流量控制器，可选第三个流量控制器（用于氮气或其他气体） 电控两向和三向阀，ASI**气体控制单元 |
| 样品室 | Flex™ 样品室具有系列可更换的垫片，适合不同大小的样品 Vertex™样品室具有快速冲洗效率和大量样品的运送能力 可用户自定义样品固定装置，ASI**LIBS测量兼容性 |
| 与ICP-MS通讯 | 在J200和ICP-MS之间实现双向控制 |
| LIBS检测器 (仅适用于Tandem系统) | Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器 |
| 仪器软件 | Axiom LA系统操作软件，ASI**的TruLIBS™发射光谱数据库（用于Tandem系统） Clarity Femto数据处理软件（处理LA-ICP-MS和LIBS的数据，进行定量计算/物质分类） |
| 激光安全等级 | 一级激光产品，样品加载区域有光学安全隔离板，激光自锁保护装置 |
| 系统尺寸 | 70” (长) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (仅LA主机) 75” (长) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS检测器) |
| 重量 | 600 lbs [272Kg](仅LA主机)；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS检测器) |
| 供电要求 | 110-240 VAC，50/60 Hz， 5A， 保险10A |
| 质保 | 所有硬件和软件质保一年，飞秒激光器质保两年 |
| 认证 | CE认证 |
| 可选项 | LA升级为Tandem系统 |
| 延保 | 可签署多年质保和服务协议 |
* 通常作用在样品表面的激光能量大约是20-80 μJ
应用案例
植物样品表层及深层元素分布
采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。
大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱
大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物，大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ，镉含量不得大于0.1mg/kg，但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准，韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品，分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明，砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面，并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。
产地：美国
